被加工物的加工方法、器件芯片的制造方法

    公开(公告)号:CN111293083B

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN201911219424.6

    申请日:2019-12-03

    Abstract: 提供被加工物的加工方法、器件芯片的制造方法,形成抗弯强度高的芯片。将被加工物沿着分割预定线分割而形成芯片的被加工物的加工方法具有如下步骤:框架单元准备步骤,准备如下框架单元:该框架单元具有带、环状的框架以及被加工物,带粘贴在被加工物的背面上,具有延伸性,带的外周部粘贴于环状的框架;保护膜形成步骤,对被加工物的正面涂布液态树脂而形成保护膜;切断步骤,沿着分割预定线对被加工物照射激光束从而沿着分割预定线将被加工物切断;间隔扩展步骤,将粘贴于被加工物的带向径向外侧扩展,将切断被加工物而形成的各芯片间的间隔扩展;和蚀刻步骤,通过湿蚀刻将由于切断步骤中的激光束的照射而形成于各芯片的切断面的变质区域去除。

    被加工物的加工方法、器件芯片的制造方法

    公开(公告)号:CN111293083A

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN201911219424.6

    申请日:2019-12-03

    Abstract: 提供被加工物的加工方法、器件芯片的制造方法,形成抗弯强度高的芯片。将被加工物沿着分割预定线分割而形成芯片的被加工物的加工方法具有如下步骤:框架单元准备步骤,准备如下框架单元:该框架单元具有带、环状的框架以及被加工物,带粘贴在被加工物的背面上,具有延伸性,带的外周部粘贴于环状的框架;保护膜形成步骤,对被加工物的正面涂布液态树脂而形成保护膜;切断步骤,沿着分割预定线对被加工物照射激光束从而沿着分割预定线将被加工物切断;间隔扩展步骤,将粘贴于被加工物的带向径向外侧扩展,将切断被加工物而形成的各芯片间的间隔扩展;和蚀刻步骤,通过湿蚀刻将由于切断步骤中的激光束的照射而形成于各芯片的切断面的变质区域去除。

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