光学测距装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113424077B

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202080013994.4

    申请日:2020-02-12

    Abstract: 本发明涉及光学测距装置。光学测距装置(100)具备:激光二极管(10),朝向测定对象物反复投射脉冲状的输出光;受光元件(18),包含通过接受光并以受光信号输出的光子计数型受光元件;测距部(16),包含将受光信号中超过阈值的信号成分辨别为测定对象物中的反射输出光而产生的反射信号的信号辨别单元、和基于反射信号来推定到测定对象物的输出光的往复传播时间的传播推定单元;以及阈值设定部(32),基于根据受光信号所包含的噪声的概率分布的平均值求出的基准电平与概率分布中的累积概率成为规定值的边界电平的关系,在信号辨别单元中辨别反射信号时将根据受光信号实际求出的基准电平所对应的边界电平设定为阈值。

    光学测距装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113424077A

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN202080013994.4

    申请日:2020-02-12

    Abstract: 本发明涉及光学测距装置。光学测距装置(100)具备:激光二极管(10),朝向测定对象物反复投射脉冲状的输出光;受光元件(18),包含通过接受光并以受光信号输出的光子计数型受光元件;测距部(16),包含将受光信号中超过阈值的信号成分辨别为测定对象物中的反射输出光而产生的反射信号的信号辨别单元、和基于反射信号来推定到测定对象物的输出光的往复传播时间的传播推定单元;以及阈值设定部(32),基于根据受光信号所包含的噪声的概率分布的平均值求出的基准电平与概率分布中的累积概率成为规定值的边界电平的关系,在信号辨别单元中辨别反射信号时将根据受光信号实际求出的基准电平所对应的边界电平设定为阈值。

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