公开(公告)号：CN222838021U

公开(公告)日：2025-05-06

申请号：CN202420604984.3

申请日：2024-03-27

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 高原晃里 ,  青柳光一 ,  池坂健词 ,  冈要平

IPC: G01N23/2204 ,  G01N23/223

Abstract: 本实用新型提供一种样品架以及侧照式X射线荧光分析装置，该样品架的样品更换作业简便且可防止装置内部的污染，并且能够进行高精度的分析。该样品架是被用于侧照式X射线荧光分析装置的样品架，具有：被测物按压件，其一部分与包含样品并具有平行平板的表面和背面的被测物的表面的1次X射线照射部分的周围抵接；以及弹簧，其从背面侧对所述被测物施力而将所述被测物按压在所述被测物按压件上。

公开(公告)号：CN119072626A

公开(公告)日：2024-12-03

申请号：CN202480001941.9

申请日：2024-03-05

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 高原晃里 ,  庄司孝

IPC: G01N23/223 ,  G01N1/28 ,  G01N23/2204

Abstract: 本发明提供一种即使在样品具有受热挥发的性质的情况下，也能够准确地对样品的表面照射X射线的样品池及荧光X射线分析方法。一种用于荧光X射线分析装置的样品池，具有：配置在初级X射线的照射一侧的第一树脂膜、隔着样品而与所述第一树脂膜对置配置的第二树脂膜以及保持所述样品与所述第一树脂膜之间的位置关系的保持部件，所述第一树脂膜与所述第二树脂膜的在配置有所述样品的区域的周围的至少一部分被粘接。

公开(公告)号：CN119768681A

公开(公告)日：2025-04-04

申请号：CN202480003780.7

申请日：2024-01-18

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 高原晃里 ,  庄司孝

IPC: G01N23/223 ,  G01N1/10 ,  G01N23/2204

Abstract: 本发明提供一种荧光X射线分析方法及样品袋池，其能够进行液体样品的测定以及能够避开测定中产生的气泡而照射X射线。一种竖立配置在侧照式的荧光X射线分析装置上的液体样品用的样品袋池，具有：第一树脂膜，其配置在1次X射线的照射侧；以及第二树脂膜，其除去液体样品的注入口以外的区域与所述第一树脂膜粘合。