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公开(公告)号：CN222838021U
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202420604984.3
申请日：2024-03-27
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/2204 , G01N23/223
Abstract: 本实用新型提供一种样品架以及侧照式X射线荧光分析装置，该样品架的样品更换作业简便且可防止装置内部的污染，并且能够进行高精度的分析。该样品架是被用于侧照式X射线荧光分析装置的样品架，具有：被测物按压件，其一部分与包含样品并具有平行平板的表面和背面的被测物的表面的1次X射线照射部分的周围抵接；以及弹簧，其从背面侧对所述被测物施力而将所述被测物按压在所述被测物按压件上。
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