公开(公告)号：CN112074728A

公开(公告)日：2020-12-11

申请号：CN201980030119.4

申请日：2019-03-28

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 喜多广明 ,  栗田清逸

IPC: G01N23/223

Abstract: 本发明提供一种能够计算正确的测量时间的荧光X射线分析系统。通过对样品的表面照射1次X射线所产生的荧光X射线对所述样品进行分析，具有：作业执行部，执行表示处理条件的作业，处理条件是表示组合多个分析所需的动作而构成的测量条件的菜单与由该菜单所表示的测量条件所测量的样品相关联的条件；存储部，使各动作所需要的时间与各动作预先关联存储；计算部，当生成了作业时，基于存储部中存储的时间，对每个作业计算直到该作业的执行结束为止的时间；以及控制部，当作业被执行时，使动作所需的时间与该动作重新关联存储在所述存储部中，其中，当作业被执行时，计算部还基于存储部重新存储的时间计算直到作业的执行结束为止的时间。

公开(公告)号：CN112074728B

公开(公告)日：2021-09-28

申请号：CN201980030119.4

申请日：2019-03-28

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 喜多广明 ,  栗田清逸

IPC: G01N23/223

Abstract: 本发明提供一种能够计算正确的测量时间的荧光X射线分析系统。通过对样品的表面照射1次X射线所产生的荧光X射线对所述样品进行分析，具有：作业执行部，执行表示处理条件的作业，处理条件是表示组合多个分析所需的动作而构成的测量条件的菜单与由该菜单所表示的测量条件所测量的样品相关联的条件；存储部，使各动作所需要的时间与各动作预先关联存储；计算部，当生成了作业时，基于存储部中存储的时间，对每个作业计算直到该作业的执行结束为止的时间；以及控制部，当作业被执行时，使动作所需的时间与该动作重新关联存储在所述存储部中，其中，当作业被执行时，计算部还基于存储部重新存储的时间计算直到作业的执行结束为止的时间。

公开(公告)号：CN108885186B

公开(公告)日：2019-11-12

申请号：CN201880001141.1

申请日：2018-02-22

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 栗田清逸

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/2202

Abstract: 本发明公开了一种荧光X射线分析装置。该荧光X射线分析装置包括：回收单元，随着向表面上存在被测量物的基板上滴下液滴，使滴下的所述液滴在所述基板表面上移动，将所述被测量物取入至所述液滴中；干燥单元，使所述液滴干燥，使所述被测量物保持在所述基板的表面上；分析单元，向所述被测量物照射X射线，基于从所述被测量物出射的荧光X射线对所述被测量物中包含的元素进行定量分析；光束传感器，在回收所述被测量物后，使所述液滴干燥前，出射带状的激光，所述带状的激光检测从所述回收单元离开的所述液滴的量；以及运算单元，根据所述光束传感器的检测结果计算用于校正所述液滴的量或所述被测量物的定量分析值的校正系数。

公开(公告)号：CN108885186A

公开(公告)日：2018-11-23

申请号：CN201880001141.1

申请日：2018-02-22

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 栗田清逸

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/2202

Abstract: 本发明公开了一种荧光X射线分析装置。该荧光X射线分析装置包括：回收单元，随着向表面上存在被测量物的基板上滴下液滴，使滴下的所述液滴在所述基板表面上移动，将所述被测量物取入至所述液滴中；干燥单元，使所述液滴干燥，使所述被测量物保持在所述基板的表面上；分析单元，向所述被测量物照射X射线，基于从所述被测量物出射的荧光X射线对所述被测量物中包含的元素进行定量分析；光束传感器，在回收所述被测量物后，使所述液滴干燥前，出射带状的激光，所述带状的激光检测从所述回收单元离开的所述液滴的量；以及运算单元，根据所述光束传感器的检测结果计算用于校正所述液滴的量或所述被测量物的定量分析值的校正系数。