三维电子密度图确定装置、系统、方法以及记录介质

    公开(公告)号:CN116256274A

    公开(公告)日:2023-06-13

    申请号:CN202211586651.4

    申请日:2022-12-09

    Abstract: 提供一种电子密度图确定装置、系统、方法以及记录介质,能够准确地再现采用具有动态波动的结构的溶液中的高分子的电子密度图。一种确定溶液中的高分子的电子密度图的电子密度图确定装置(200),具备:电子密度图生成部(221),其从对试样进行测定而得到的实测的X射线散射分布图生成多个电子密度图;指标算出部(226),其算出表示从多个电子密度图中的每个电子密度图算出的计算上的X射线散射分布图与实测的X射线散射分布图的一致度的指标;以及电子密度图选择部(258),其基于算出的指标从多个电子密度图中选择代表的电子密度图。

    晶体结构解析方法、晶体结构解析装置及晶体结构解析程序

    公开(公告)号:CN118318159A

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202280078269.4

    申请日:2022-11-15

    Abstract: 一种晶体结构解析方法,一边使放射线的入射角变化一边对多个样品中的各个照射放射线,由此,求出针对各个样品内的多个晶体晶格面的衍射点强度及可靠度,取得数据(Data‑1、Data‑2、Data‑3、…、Data‑n),基于合并基准指标(例如Rint、完整性)按各个数据中的每个判定是否进行合并,所述合并是将多个数据汇总为一个的处理,关于被判定为进行合并的数据进行用于将这些多个数据汇总为一个的处理即合并,通过作为合并的结果而得到的合并后数据来确定晶体的结构。在通过对多个衍射图形进行数据处理和解析来确定晶体结构的晶体结构解析方法、晶体结构解析装置以及晶体结构解析程序中,能得到可靠性高的晶体结构解析结果。

    形态解析装置、形态解析方法及形态解析程序

    公开(公告)号:CN119301440A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202380043126.4

    申请日:2023-06-19

    Abstract: 提供能识别分子的构成要素的形态的形态解析装置、形态解析方法以及形态解析程序。一种对溶液中的分子的形态进行解析的形态解析装置(200),具备:参照数据存储部(234),其存储参照数据,所述参照数据是事先确定出的被检分子的分子形状数据;对象数据存储部(235),其存储对象数据,所述对象数据是成为解析对象的所述被检分子的分子形状数据;以及形态推定部(237),其通过确定所述对象数据相对于所述参照数据的构成分子形状的物理量的状态来推定所述对象数据中的分子的构成要素的形态,所述参照数据和所述对象数据均具有分子水平的分辨率。

    微流路装置
    6.
    发明公开
    微流路装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN118974533A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202380031004.3

    申请日:2023-03-30

    Abstract: 一种微流路装置,从包含作为分析的对照物使用的第1成分和成为分析对象的第2成分的试样溶液分离成包含所述第1成分的溶液与包含所述第2成分的溶液。

    控制装置、系统、方法以及程序
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118901001A

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202380028093.6

    申请日:2023-02-21

    Abstract: 提供一种能够高效地取得对于以超过#imgabs0#的分辨率确定溶液中的高分子的结构而言有意义的数据的控制装置、系统、方法以及程序。控制X射线分析装置的控制装置(200)具备:数据转换部(223),其在各时间将从X射线分析装置取得的试样溶液数据和基准溶液数据转换为分布图;第一指标算出部(232),其基于所述转换的分布图中的至少一方溶液数据的分布图,算出表示时间轴方向的强度的波动的第一指标;第一指标判定部(234),其判定所算出的第一指标是否处于规定范围内;以及装置控制部(268),其在第一指标不处于规定范围内的情况下,使由X射线分析装置进行的测定结束。

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