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公开(公告)号：CN118318159A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202280078269.4
申请日：2022-11-15
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/2055 , G01N23/20058 , G01N23/205
Abstract: 一种晶体结构解析方法，一边使放射线的入射角变化一边对多个样品中的各个照射放射线，由此，求出针对各个样品内的多个晶体晶格面的衍射点强度及可靠度，取得数据(Data‑1、Data‑2、Data‑3、…、Data‑n)，基于合并基准指标(例如Rint、完整性)按各个数据中的每个判定是否进行合并，所述合并是将多个数据汇总为一个的处理，关于被判定为进行合并的数据进行用于将这些多个数据汇总为一个的处理即合并，通过作为合并的结果而得到的合并后数据来确定晶体的结构。在通过对多个衍射图形进行数据处理和解析来确定晶体结构的晶体结构解析方法、晶体结构解析装置以及晶体结构解析程序中，能得到可靠性高的晶体结构解析结果。
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