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公开(公告)号：CN1865975B
公开(公告)日：2011-07-20
申请号：CN200610001574.6
申请日：2006-01-24
Applicant: 株式会社日立制作所 , 警察厅科学警察研究所
IPC: G01N27/62
CPC classification number: H01J49/04 , Y10T436/16
Abstract: 本发明提供即使是试样气体中的共存物质的浓度发生变化，也能够准确地定量化学试剂的浓度的气体监控装置。这种气体监控装置(1)的特征在于，具有导入含有测定对象物质的试样气体的试样导入部(3)、测定包含在试样气体中且与测定对象物质共存的规定共存物质的浓度的共存物质浓度测定单元(4)、使所述试样气体电离的电离部、分析从所述电离部生成的离子的质量的质量分析仪、解析由质量分析仪检测出的信号并计算出测定对象物质的浓度的数据处理部(7)、显示由数据处理部(7)解析的解析结果的显示部(8)；并且，数据处理部(7)具有对应于规定共存物质的浓度而修正测定对象物质的浓度的修正单元。
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公开(公告)号：CN1865975A
公开(公告)日：2006-11-22
申请号：CN200610001574.6
申请日：2006-01-24
Applicant: 株式会社日立制作所 , 警察厅科学警察研究所
IPC: G01N27/62
CPC classification number: H01J49/04 , Y10T436/16
Abstract: 本发明提供即使是试样气体中的共存物质的浓度发生变化，也能够准确地定量化学试剂的浓度的气体监控装置。这种气体监控装置(1)的特征在于，具有导入含有测定对象物质的试样气体的试样导入部(3)、测定包含在试样气体中且与测定对象物质共存的规定共存物质的浓度的共存物质浓度测定单元(4)、使所述试样气体电离的电离部、分析从所述电离部生成的离子的质量的质量分析仪、解析由质量分析仪检测出的信号并计算出测定对象物质的浓度的数据处理部(7)、显示由数据处理部(7)解析的解析结果的显示部(8)；并且，数据处理部(7)具有对应于规定共存物质的浓度而修正测定对象物质的浓度的修正单元。
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公开(公告)号：CN101188183A
公开(公告)日：2008-05-28
申请号：CN200710085081.X
申请日：2007-02-28
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/4225 , H01J49/429
Abstract: 本发明的质量分析计和质量分析装置由导入用离子源生成的离子并且施加RF电压的四重极棒电极和检测所排出的离子的检测机构构成，其特征在于：在棒轴向形成质量依存的电势，从电势的极小点附近质量选择地向轴向排出离子；此外，通过在插入棒电极之间的插入电极上施加静电电压和RF电压，形成质量选择的电势。根据本发明，实现排出效率高、排出能量低的线性阱。
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公开(公告)号：CN101814415B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201010163076.8
申请日：2006-03-08
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01J49/42
CPC classification number: H01J49/427 , H01J49/067 , H01J49/4225
Abstract: 本发明提供一种质量分析装置以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
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公开(公告)号：CN101188183B
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200710085081.X
申请日：2007-02-28
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/4225 , H01J49/429
Abstract: 本发明的质量分析计和质量分析装置由导入用离子源生成的离子并且施加RF电压的四重极棒电极和检测所排出的离子的检测机构构成，其特征在于：在棒轴向形成质量依存的电势，从电势的极小点附近质量选择地向轴向排出离子；此外，通过在插入棒电极之间的插入电极上施加静电电压和RF电压，形成质量选择的电势。根据本发明，实现排出效率高、排出能量低的线性阱。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101300659A
公开(公告)日：2008-11-05
申请号：CN200680040945.X
申请日：2006-03-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/427 , H01J49/067 , H01J49/4225
Abstract: 本发明提供一种质量分析计以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
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公开(公告)号：CN101135668A
公开(公告)日：2008-03-05
申请号：CN200710078911.6
申请日：2007-02-16
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/0036 , Y10T436/24
Abstract: 本发明提供可以实时检测作为一种化学武器药品的二苯基氰基胂(DC)和二苯基氯胂(DA)的气体监测装置。用大气压化学离子化质量分析法由正离子化模式进行测定，从DA和DC共同的离子强度测定DA和DC的总量，从DC特有的离子强度测定DC的浓度，以它们之差作为DA的浓度。
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公开(公告)号：CN101300659B
公开(公告)日：2010-05-26
申请号：CN200680040945.X
申请日：2006-03-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/427 , H01J49/067 , H01J49/4225
Abstract: 本发明提供一种质量分析计以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
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公开(公告)号：CN1758057A
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN200510051340.8
申请日：2005-03-04
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G01N27/622
Abstract: 本发明提供一种离子迁移率分析装置，其包括：生成第1离子的离子源1；根据飞行漂移时间分离所述第1离子的第1漂移部(L1)；对由第1漂移部分离出的所述第1离子进行离解，来生成第2离子的离子离解部(Lg)；以及根据飞行漂移时间分离所述第2离子的第2漂移部(L2)；第1漂移部、离子离解部、第2漂移部，被设置在压力为10mTorr以上的腔室内；通过所述结构，能够以低成本进行高分辨率的离子分离检测。
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公开(公告)号：CN101814415A
公开(公告)日：2010-08-25
申请号：CN201010163076.8
申请日：2006-03-08
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01J49/42
CPC classification number: H01J49/427 , H01J49/067 , H01J49/4225
Abstract: 本发明提供一种质量分析装置以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
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