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公开(公告)号：CN101814415A
公开(公告)日：2010-08-25
申请号：CN201010163076.8
申请日：2006-03-08
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01J49/42
CPC classification number: H01J49/427 , H01J49/067 , H01J49/4225
Abstract: 本发明提供一种质量分析装置以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101300659B
公开(公告)日：2010-05-26
申请号：CN200680040945.X
申请日：2006-03-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/427 , H01J49/067 , H01J49/4225
Abstract: 本发明提供一种质量分析计以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
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公开(公告)号：CN101335177A
公开(公告)日：2008-12-31
申请号：CN200810109182.0
申请日：2008-05-23
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/4225 , G01N27/622
Abstract: 本发明提供一种离子阱、质量分析计、离子迁移率分析计，其课题在于提供一种小型、廉价、简便的质量分析单元，其能够应用可以实现无需在以往的质量分析方法中必须的高真空的低真空中的动作、小型且电极个数少并且形状易于加工、进而无需电子倍增管等放大的检测离子电流的离子检测方法。在该真空区域中以往使用离子迁移率分析单元，但通过本方式可以提供新的质量分析手段，可以针对各种应用显著地提高分析精度。使用在本发明中公开的一维离子阱。基于一维离子阱的质量分析单元可以囚禁大量的离子，可以提供能够在低真空中动作的质量分析方式，所以可以实现不使用高真空的质量分析单元。
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公开(公告)号：CN101814415B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201010163076.8
申请日：2006-03-08
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01J49/42
CPC classification number: H01J49/427 , H01J49/067 , H01J49/4225
Abstract: 本发明提供一种质量分析装置以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
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公开(公告)号：CN101300659A
公开(公告)日：2008-11-05
申请号：CN200680040945.X
申请日：2006-03-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/427 , H01J49/067 , H01J49/4225
Abstract: 本发明提供一种质量分析计以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
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公开(公告)号：CN101335177B
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200810109182.0
申请日：2008-05-23
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/4225 , G01N27/622
Abstract: 本发明提供一种离子阱、质量分析计、离子迁移率分析计，其课题在于提供一种小型、廉价、简便的质量分析单元，其能够应用可以实现无需在以往的质量分析方法中必须的高真空的低真空中的动作、小型且电极个数少并且形状易于加工、进而无需电子倍增管等放大的检测离子电流的离子检测方法。在该真空区域中以往使用离子迁移率分析单元，但通过本方式可以提供新的质量分析手段，可以针对各种应用显著地提高分析精度。使用在本发明中公开的一维离子阱。基于一维离子阱的质量分析单元可以囚禁大量的离子，可以提供能够在低真空中动作的质量分析方式，所以可以实现不使用高真空的质量分析单元。
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