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公开(公告)号：CN1155152A
公开(公告)日：1997-07-23
申请号：CN96121604.2
申请日：1996-12-11
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 一种带电粒子束装置，包括一环形带电粒子加速器和一辐照单元，用于将从带电粒子加速器提供的带电粒子束辐照到一辐照靶上，带电粒子加速器有用于打开和关闭对带电粒子束的引出的开关装置，辐照单元有用于设置辐照到辐照靶上的带电粒子束的辐照点的电磁铁，并安置一控制单元，以控制开关装置使其打开和关闭对带电粒子束的引出，并控制电磁铁使其改变辐照点。
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公开(公告)号：CN104941076B
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201510085293.2
申请日：2015-02-16
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61N5/10
CPC classification number: A61N5/1077 , A61N5/103 , A61N5/1043 , A61N5/1067 , A61N5/1071 , A61N2005/1074 , A61N2005/1087
Abstract: 本发明提供一种能够缩短电荷粒子束向照射对象的照射时间的电荷粒子束照射系统。具备：电荷粒子束产生装置，其加速地射出电荷粒子束；照射装置，其具有扫描电荷粒子束的扫描电磁铁，向照射对象的多个照射点射出加速后的电荷粒子束；射束射线量测量器，其求出通过照射装置内的电荷粒子束的射线量；射束位置测量器，其求出通过扫描电磁铁扫描的电荷粒子束的位置和宽度的任意一方或双方。
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公开(公告)号：CN104981271B
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201380068001.3
申请日：2013-10-10
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G21K1/00
CPC classification number: A61B6/542 , A61N5/1049 , A61N5/1067 , A61N5/1071 , A61N5/1075 , A61N5/1077 , A61N2005/1061 , A61N2005/1074 , A61N2005/1087 , F04C2270/041
Abstract: 粒子束治疗装置具备：粒子束产生装置，其产生粒子束；照射区域形成装置，其被设置在治疗室内，用于对目标照射粒子束；粒子束输送系统(6)，其将粒子束产生装置与照射区域形成装置连接；X射线拍摄装置，其被设置在治疗室内，照射X射线来拍摄目标的位置；剂量测量器(8)，其被设置在照射区域形成装置内且粒子束经过的位置；以及控制装置(400)，其在治疗时间中照射了X射线时，进行控制以便从剂量测量器(8)的测量结果中去除X射线的测量结果。
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公开(公告)号：CN104941076A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201510085293.2
申请日：2015-02-16
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61N5/10
CPC classification number: A61N5/1077 , A61N5/103 , A61N5/1043 , A61N5/1067 , A61N5/1071 , A61N2005/1074 , A61N2005/1087
Abstract: 本发明提供一种能够缩短电荷粒子束向照射对象的照射时间的电荷粒子束照射系统。具备：电荷粒子束产生装置，其加速地射出电荷粒子束；照射装置，其具有扫描电荷粒子束的扫描电磁铁，向照射对象的多个照射点射出加速后的电荷粒子束；射束射线量测量器，其求出通过照射装置内的电荷粒子束的射线量；射束位置测量器，其求出通过扫描电磁铁扫描的电荷粒子束的位置和宽度的任意一方或双方。
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公开(公告)号：CN104667436A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201410721346.0
申请日：2014-12-02
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61N5/10
CPC classification number: A61N5/1065 , A61N5/1077 , A61N2005/1074 , G01T1/2935
Abstract: 本发明提供一种波束监视系统以及粒子线照射系统，具备用于提高位置宽度确定的测量精度的简单的结构。作为在位置确定中使用的信号，从测量线所有点中周期性地提取代表线电极，各以一点分别与位置确定用电流频率变换器、监视器信号处理装置连接，来确定波束位置。作为仅取得数据的信号，将测量线所有点通过相同数量的线进行分组，取得各组信号的各一点的信号，汇聚组数的测量线与一点的数据取得用电流频率变换器、监视器信号处理装置连接。之后，上游波束监视器监视控制装置和下游波束监视器监视控制装置根据来自代表线电极的处理信号求出波束位置，根据求出的波束位置的信息、来自代表线电极的处理信号以及来自剩余线电极的处理信号求出波束宽度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104338244A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201410377913.5
申请日：2014-08-04
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61N5/10
CPC classification number: A61N5/1065 , A61N5/1077 , A61N2005/1074 , G01T1/2935
Abstract: 本发明提供一种射束监视系统以及粒子束照射系统，能够进行准确的位置确定，并能够使是适当的照射的判断高精度化。射束监视系统，由将相邻的多个电极丝作为一个组的多个组构成电荷收集电极。另外，以对于某汇集的连续的测量通道，至少2个通道在物理上不连续的方式通过与属于组的电极丝相同个数的布线将全部电极丝与信号处理装置的通道连接起来，使得从同一布线输入从各个组中选择出的一个电极丝输出的检测信号。进而，信号处理装置22求出表示所输入的检测信号是属于哪个组的电极丝的检测信号的组信息，将包含组信息的处理信号输出到射束监视控制装置，求出通过了电极丝的带电粒子束的位置和射束宽度。
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公开(公告)号：CN103285525A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310054030.6
申请日：2013-02-20
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61N5/10
CPC classification number: G01T1/29 , A61N5/1043 , A61N5/1071 , A61N5/1075 , A61N2005/1074 , A61N2005/1087 , G01T1/2935
Abstract: 本发明提供一种波束监视系统和粒子束照射系统。在扫描带电粒子的细的波束进行照射的方式中，为了进行精度高的照射，需要细波束，处于测定波束轮廓的多线型监视器的每单位长的线数增加的倾向，但是同时照射波束的导线是全部导线中很少一部分。作为仅对同时照射波束的范围相当的数量的线信号进行信号处理的方式，通过对照射范围的相当的数量的线连接其他线，提供低成本且高可靠性的波束监视系统。波束监视系统在测定带电粒子束的波束轮廓的多线型监视器中，对从多个线输出的信号进行分割，以相同数量的线进行分组，将各组的信号各取出一个并连接，按照属于组的线数的件数汇总，连接到存储了连接信息的信号处理部。
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公开(公告)号：CN104667436B
公开(公告)日：2018-08-10
申请号：CN201410721346.0
申请日：2014-12-02
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61N5/10
CPC classification number: A61N5/1065 , A61N5/1077 , A61N2005/1074 , G01T1/2935
Abstract: 本发明提供一种波束监视系统以及粒子线照射系统，具备用于提高位置宽度确定的测量精度的简单的结构。作为在位置确定中使用的信号，从测量线所有点中周期性地提取代表线电极，各以一点分别与位置确定用电流频率变换器、监视器信号处理装置连接，来确定波束位置。作为仅取得数据的信号，将测量线所有点通过相同数量的线进行分组，取得各组信号的各一点的信号，汇聚组数的测量线与一点的数据取得用电流频率变换器、监视器信号处理装置连接。之后，上游波束监视器监视控制装置和下游波束监视器监视控制装置根据来自代表线电极的处理信号求出波束位置，根据求出的波束位置的信息、来自代表线电极的处理信号以及来自剩余线电极的处理信号求出波束宽度。
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公开(公告)号：CN103293549B
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201310055087.8
申请日：2013-02-20
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G01T7/005 , A61N5/1048 , A61N5/1075 , A61N2005/1087 , G01T1/29
Abstract: 提供一种放射线测量装置的校正方法和粒子线治疗装置。在层叠型的放射线测量装置中，不使用水仿真模型测量装置，就能够短时间并且容易地校正每个传感器的输出的偏差。放射线测量装置的传感器部在粒子线的射线束方向上层叠多个传感器。虚拟吸收体具有与多个传感器的平均水等价厚度相等的水等价厚度，并且在相对于放射线的前进方向上设置在传感器部的上游侧。信号处理装置使用向放射线测量装置照射放射线而测量在各传感器中产生的电信号的第一测量所得到的测量结果、使传感器部向放射线的前进方向移动并且设置虚拟吸收体而在与第一测量相同的条件下照射放射线来测量在各传感器中产生的电信号的第二测量所得到的测量结果，计算各传感器的校正系数。
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公开(公告)号：CN103293549A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310055087.8
申请日：2013-02-20
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G01T7/005 , A61N5/1048 , A61N5/1075 , A61N2005/1087 , G01T1/29
Abstract: 提供一种放射线测量装置的校正方法和粒子线治疗装置。在层叠型的放射线测量装置中，不使用水仿真模型测量装置，就能够短时间并且容易地校正每个传感器的输出的偏差。放射线测量装置的传感器部在粒子线的射线束方向上层叠多个传感器。虚拟吸收体具有与多个传感器的平均水等价厚度相等的水等价厚度，并且在相对于放射线的前进方向上设置在传感器部的上游侧。信号处理装置使用向放射线测量装置照射放射线而测量在各传感器中产生的电信号的第一测量所得到的测量结果、使传感器部向放射线的前进方向移动并且设置虚拟吸收体而在与第一测量相同的条件下照射放射线来测量在各传感器中产生的电信号的第二测量所得到的测量结果，计算各传感器的校正系数。
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