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公开(公告)号:CN102097584A
公开(公告)日:2011-06-15
申请号:CN201010522973.3
申请日:2010-10-26
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01L43/08 , B82Y25/00 , G01R33/093 , G01R33/095 , G11B5/3993 , H01L43/12
Abstract: 磁阻器件包括:晶片(4,64);细长的半导体沟道(11),在第一方向(14)延伸;以及至少两根导线(26),提供与沟道的一组触点(27)。器件可以包括与沟道接触的可选的半导体分流器(8)。可选的分流器、沟道和触点组在垂直于第一方向和衬底的表面的第二方向(15)上相对于衬底堆叠。器件具有沿着沟道行进的侧面(30)。器件响应于通常垂直于侧面的磁场(31)。
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公开(公告)号:CN102097584B
公开(公告)日:2013-10-23
申请号:CN201010522973.3
申请日:2010-10-26
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01L43/08 , B82Y25/00 , G01R33/093 , G01R33/095 , G11B5/3993 , H01L43/12
Abstract: 磁阻器件包括:晶片(4,64);细长的半导体沟道(11),在第一方向(14)延伸;以及至少两根导线(26),提供与沟道的一组触点(27)。器件可以包括与沟道接触的可选的半导体分流器(8)。可选的分流器、沟道和触点组在垂直于第一方向和衬底的表面的第二方向(15)上相对于衬底堆叠。器件具有沿着沟道行进的侧面(30)。器件响应于通常垂直于侧面的磁场(31)。
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