公开(公告)号：CN111973187A

公开(公告)日：2020-11-24

申请号：CN202010082916.1

申请日：2020-02-07

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 今村幸信 ,  黑目明 ,  星野伸 ,  八尾武 ,  藤川拓也

IPC: A61B5/055 ,  G01R33/3815

Abstract: 本发明提供能抑制伴随辐射屏蔽件的振动而产生涡流并能减少画像质量降低的磁共振成像装置及超导磁铁。磁共振成像装置用的超导磁铁(1)具有大致圆筒形状的真空容器(11)、配置在真空容器(11)内的大致圆筒形状的辐射屏蔽件(12)、以及配置在辐射屏蔽件(12)内的超导线圈(10)。辐射屏蔽件(12)具有位于超导线圈(10)的径向内侧的内筒(12a)。在辐射屏蔽件(12)的内筒(12a)设有沿以该内筒(12a)的中心轴(8)为中心的圆周方向形成的圆环状的肋(17)。

公开(公告)号：CN104736050B

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201380054221.0

申请日：2013-11-11

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 新井浩一 ,  八尾武 ,  佐藤良昭

IPC: A61B5/055

CPC classification number: G01R33/288 ,  A61B5/055 ,  G01R33/34092 ,  G01R33/36 ,  G01R33/5608

Abstract: 在将被检测体配置于MRI装置的状态下简单地求取RF照射线圈的Q值，并高精度地预测SAR。为此，在将被检测体(1)配置于摄像空间内的状态下，从照射线圈(14a)向被检测体(1)照射高频磁场脉冲，检测照射线圈(14a)的发送电压和反射电压。根据该发送电压和反射电压来求取配置有被检测体(1)的状态下的照射线圈的Q值。使用该Q值，预测对被检测体实施了摄像脉冲序列时的比吸收率(SAR)。

公开(公告)号：CN111031910A

公开(公告)日：2020-04-17

申请号：CN201880054352.1

申请日：2018-08-03

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 八尾武

IPC: A61B5/055

Abstract: 本发明准确地确定出MRI装置中的产生位置。本发明提供噪声源搜索装置，该噪声源搜索装置应用于通过对配置于静磁场中的被检体施加由高频线圈产生的RF脉冲以及由倾斜磁场线圈产生的倾斜磁场脉冲，来获得从被检体产生的NMR信号的MRI装置，该噪声源搜索装置具备：基准天线以及探测天线，其测量在MRI装置中产生的噪声；噪声产生条件确定部，其基于由基准天线测量的噪声的噪声强度，将倾斜磁场线圈的轴以及驱动频率确定为在MRI装置中产生的噪声产生条件；噪声产生位置确定部，其根据由噪声产生条件确定部确定出的噪声产生条件驱动倾斜磁场线圈，基于基准天线以及配置于与基准天线不同的位置的探测天线接收到的噪声的测量时间差确定出MRI装置中的噪声产生位置。