公开(公告)号：CN118339607A

公开(公告)日：2024-07-12

申请号：CN202280077007.6

申请日：2022-09-08

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 富田晓

IPC: G09G5/36 ,  G06T5/90 ,  G09G5/00

Abstract: 图像的对比度增强方法是对显示装置的图像显示面进行拍摄得到的图像的对比度增强方法，包括信息处理装置进行图像的对比度增强的步骤，示出图像所含的像素的灰度值的对比度增强前的值与对比度增强后的值之间的关系的线状图是具有两个拐点的曲线。

公开(公告)号：CN106251796A

公开(公告)日：2016-12-21

申请号：CN201610402580.6

申请日：2016-06-08

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 石毛信幸 ,  富田晓

IPC: G09G3/00

Abstract: 本发明提供显示装置的检查装置、显示装置用母基板的检查方法及显示装置。上述显示装置的检查装置具备：第1探头块，具备多个第1探头；探头块安装夹具，将上述第1探头块的位置改变自如地支承上述第1探头块；信号源，对上述多个第1探头供给信号；以及传送线缆，连接上述第1探头块与上述信号源。

公开(公告)号：CN117881241A

公开(公告)日：2024-04-12

申请号：CN202311313746.3

申请日：2023-10-11

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 富田晓 ,  远藤和之 ,  真喜志康太

IPC: H10K59/131 ,  H10K71/70

Abstract: 本发明涉及计测方法及计测装置。实施方式涉及的计测方法具备：形成具有配置于基材的第1面侧的下部和从下部的侧面突出的上部的隔壁；获取通过从基材的第1面侧或与基材的第1面相反的第2面侧照射电磁波而生成的包含隔壁的第1图像；对所获取的第1图像进行分析；和基于分析的结果，对上部的端部从下部的侧面突出的突出量进行计测。

公开(公告)号：CN117739806A

公开(公告)日：2024-03-22

申请号：CN202311208743.3

申请日：2023-09-19

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 富田晓

IPC: G01B11/00

Abstract: 实施方式的测量方法包括：形成具有配置在基材的第1面侧的下部、以及从下部的侧面突出的上部的隔壁；获取从基材的与第1面相对置的第2面侧利用光学显微镜观察到的包含隔壁的第1图像；对获取的第1图像进行解析；以及基于解析结果对上部的端部从下部的侧面突出的突出量进行测量。

公开(公告)号：CN117715491A

公开(公告)日：2024-03-15

申请号：CN202311171615.6

申请日：2023-09-12

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 富田晓

IPC: H10K71/70 ,  H10K59/10

Abstract: 本发明提供一种计测方法及计测装置，实施方式的计测方法包括：形成具有配置在基材上的下部和从该下部的侧面突出的上部的隔壁；获取第1图像，其中，检测通过从相对于与基材垂直的第1方向倾斜的第2方向向包含下部的侧面的至少一部分以及上部的端部的至少一部分的区域照射含一次电子的电子束而产生的二次电子，由此生成该第1图像；对获取到的第1图像进行解析；和基于解析结果计测上部的端部从下部的侧面突出的突出量。

公开(公告)号：CN118335721A

公开(公告)日：2024-07-12

申请号：CN202311711134.X

申请日：2023-12-13

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 富田晓 ,  平田教行

IPC: H01L23/544 ,  H01L21/66 ,  H01L21/67 ,  H10K71/70 ,  H10K59/12 ,  H10K59/88 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明提供测量方法及测量装置。实施方式的测量方法具备：形成具有配置在基材上的下部和从该下部的侧面突出的上部的隔壁；取得通过对隔壁照射电子束而生成的构成该隔壁的每个元素的第一图像；解析取得的每个元素的第一图像；以及基于解析结果，测量上部的突出部从下部的侧面突出的突出量。

公开(公告)号：CN118265904A

公开(公告)日：2024-06-28

申请号：CN202280076274.1

申请日：2022-09-08

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 富田晓

IPC: G01N21/88 ,  G06N20/00 ,  G06T7/00 ,  G06V10/764 ,  G06V10/774

Abstract: 显示装置的检查方法利用机器学习，判断拍摄了显示装置的图像显示面的图像符合j种分类的哪一种，显示装置的检查方法包括：第1机器学习步骤，信息处理装置基于事先准备的包括与j种分类对应的图像的数据在内的训练数据，进行用于判断图像符合j种分类的哪一种的机器学习；以及第2机器学习步骤，信息处理装置基于包括与j种中的k种分类对应的图像的数据在内的训练数据，进行用于判断图像符合k种分类的哪一种的机器学习，j以及k为2以上的自然数，k比j小。

公开(公告)号：CN106251796B

公开(公告)日：2020-01-03

申请号：CN201610402580.6

申请日：2016-06-08

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 石毛信幸 ,  富田晓

IPC: G09G3/00

Abstract: 本发明提供显示装置的检查装置、显示装置用母基板的检查方法及显示装置。上述显示装置的检查装置具备：第1探头块，具备多个第1探头；探头块安装夹具，将上述第1探头块的位置改变自如地支承上述第1探头块；信号源，对上述多个第1探头供给信号；以及传送线缆，连接上述第1探头块与上述信号源。