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公开(公告)号:CN102027353A
公开(公告)日:2011-04-20
申请号:CN200880129204.8
申请日:2008-05-15
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: G01N21/6456 , G01N21/6486 , G01N21/763 , H04N5/2254 , H04N13/218
Abstract: 用于从多个方向观察试样保持构件上的试样并且将从试样发出的各方向的光的图像经过主成像透镜引向二维检测器的方向的导光路包括不接受直接来自试样的光的导光路。不接受直接来自试样的光的导光路包括被配置成将试样的像形成在主成像透镜的实质对焦范围内并且使形成像之后的光线射向主成像透镜的方向的光学元件。至少一个导光路的光学元件是形成实像的光学元件。由此,主成像透镜将试样以及这些实像同时成像在二维检测器上。
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公开(公告)号:CN102159936A
公开(公告)日:2011-08-17
申请号:CN200880131183.3
申请日:2008-09-18
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6458 , A61B5/0059 , G01J3/4406 , G01J2003/1226 , G01N21/6428 , G01N2021/6471 , G01N2201/0612 , G01N2201/064 , G02B5/285 , G02B21/0032 , G02B21/0076
Abstract: 本发明提供一种荧光图像检测装置以及荧光图像检测方法,为了降低与荧光图像检测装置的检测能力有关的漏光,将荧光侧滤波器部的干涉滤波器和吸收滤波器串行配置在荧光的行进方向上。在此所使用的干涉滤波器和吸收滤波器使相当于荧光的波长频带的光充分透过并且遮蔽相当于照射到试样的激励光的波长频带的光。
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公开(公告)号:CN102027353B
公开(公告)日:2012-11-28
申请号:CN200880129204.8
申请日:2008-05-15
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: G01N21/6456 , G01N21/6486 , G01N21/763 , H04N5/2254 , H04N13/218
Abstract: 用于从多个方向观察试样保持构件上的试样并且将从试样发出的各方向的光的图像经过主成像透镜引向二维检测器的方向的导光路包括不接受直接来自试样的光的导光路。不接受直接来自试样的光的导光路包括被配置成将试样的像形成在主成像透镜的实质对焦范围内并且使形成像之后的光线射向主成像透镜的方向的光学元件。至少一个导光路的光学元件是形成实像的光学元件。由此,主成像透镜将试样以及这些实像同时成像在二维检测器上。
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