公开(公告)号：CN107533018A

公开(公告)日：2018-01-02

申请号：CN201580079138.8

申请日：2015-04-24

Applicant: 株式会社尼康

Inventor： 八嶋紘宽 ,  道本隆裕 ,  坂口直史

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/18

CPC classification number: G01N23/046 ,  G01N23/04 ,  G01N23/18

Abstract: X射线检查装置具备：射线源，用于向旋转的检查对象照射X射线；检测器，用于检测从射线源发射并透射检查对象的透射X射线，并针对每个旋转角度，输出多个检测数据；区域提取单元，用于使用多个检测数据，提取检查对象投影在检测器上的区域。

公开(公告)号：CN107533018B

公开(公告)日：2021-06-04

申请号：CN201580079138.8

申请日：2015-04-24

Applicant: 株式会社尼康

Inventor： 八嶋紘宽 ,  道本隆裕 ,  坂口直史

IPC: G01N23/046 ,  G01N23/18 ,  G01N23/083

Abstract: X射线检查装置具备：射线源，用于向旋转的检查对象照射X射线；检测器，用于检测从射线源发射并透射检查对象的透射X射线，并针对每个旋转角度，输出多个检测数据；区域提取单元，用于使用多个检测数据，提取检查对象投影在检测器上的区域。

公开(公告)号：CN107407646A

公开(公告)日：2017-11-28

申请号：CN201580077303.6

申请日：2015-03-03

Applicant: 株式会社尼康

Inventor： 八嶋紘宽 ,  早野史伦 ,  河井章利

IPC: G01N23/04

CPC classification number: G01N23/083 ,  G01B15/025 ,  G01N23/04 ,  G01N23/18

Abstract: 一种用于X射线检查装置的测量处理装置，具备：区域信息获得部，其获得基于透射第一被测量物的一部分即第一区域的X射线的第一区域信息；存储部，其存储比第一区域大的、与第二被测量物的第二区域有关的第二区域信息；判断部，其基于第一区域信息和第二区域信息，判断与第一区域对应的区域是否包括在第二区域中。