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公开(公告)号：CN1953021B
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN200610136264.5
申请日：2006-10-18
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
CPC classification number: G02F1/0123 , G02F2001/134345 , G02F2201/58 , G09G3/3275 , G09G2320/029 , G09G2320/041 , G09G2320/043 , H01L27/3269
Abstract: 发光元件具有根据周围温度(以下称为环境温度)改变其电阻值(内部电阻值)的性质。本发明的目的在于使监视元件小型化，所述监视元件修正发光元件的电流值的变动造成的影响，所述发光元件的电流值的变动是环境温度的变化和随时间变化所造成的。在本发明中，像素由多个子像素构成，提供在每个子像素中的发光元件的面积不同，并且监视元件的面积与子像素中的任何的发光元件的面积相同，从而利用监视元件对像素的发光进行修正。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100517432C
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200510136381.7
申请日：2005-12-06
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
Inventor： 野泽亮
CPC classification number: G09G3/006 , G09G3/3208 , G09G3/3648
Abstract: 一种测试电路和能够容易且精确的确定缺陷是否存在以及是否存在有缺陷的点的测试方法。本发明的测试电路具有多个移位寄存器，多个门闩电路，多个第一NOR电路，多个第二NOR电路，多个第一NAND电路，多个第二NAND电路，以及多个反相器。像素区域内提供的多条源极信号线分别连接于多个门闩电路，并且由最后一级的反相器输出测试输出信号。
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公开(公告)号：CN1637819A
公开(公告)日：2005-07-13
申请号：CN200410104855.5
申请日：2004-12-24
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
CPC classification number: G09G3/32 , G09G2320/0247 , G09G2320/041 , G09G2340/0435
Abstract: 在室温下正常工作的半导体显示器件，在低温下可以不正常工作。同时，在具有相同电路构造和相同驱动方法的半导体显示器件中，工作频率越高，显示质量就越好。于是，其工作频率根据室温被设定的半导体显示器件，就可能在低温下不正常工作。根据本发明，半导体显示器件的温度和工作状态被测量，以便根据测量结果来改变工作频率。更具体地说，工作频率在低温下被降低，以便得到正常的工作，同时，工作频率在室温和高温下被提高，以便改善显示质量。
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公开(公告)号：CN100578586C
公开(公告)日：2010-01-06
申请号：CN200410104855.5
申请日：2004-12-24
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
CPC classification number: G09G3/32 , G09G2320/0247 , G09G2320/041 , G09G2340/0435
Abstract: 在室温下正常工作的半导体显示器件，在低温下可以不正常工作。同时，在具有相同电路构造和相同驱动方法的半导体显示器件中，工作频率越高，显示质量就越好。于是，其工作频率根据室温被设定的半导体显示器件，就可能在低温下不正常工作。根据本发明，半导体显示器件的温度和工作状态被测量，以便根据测量结果来改变工作频率。更具体地说，工作频率在低温下被降低，以便得到正常的工作，同时，工作频率在室温和高温下被提高，以便改善显示质量。
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公开(公告)号：CN1953021A
公开(公告)日：2007-04-25
申请号：CN200610136264.5
申请日：2006-10-18
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
CPC classification number: G02F1/0123 , G02F2001/134345 , G02F2201/58 , G09G3/3275 , G09G2320/029 , G09G2320/041 , G09G2320/043 , H01L27/3269
Abstract: 发光元件具有根据周围温度(以下称为环境温度)改变其电阻值(内部电阻值)的性质。本发明的目的在于使监视元件小型化，所述监视元件修正发光元件的电流值的变动造成的影响，所述发光元件的电流值的变动是环境温度的变化和随时间变化所造成的。在本发明中，像素由多个子像素构成，提供在每个子像素中的发光元件的面积不同，并且监视元件的面积与子像素中的任何的发光元件的面积相同，从而利用监视元件对像素的发光进行修正。
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公开(公告)号：CN1801264A
公开(公告)日：2006-07-12
申请号：CN200510136381.7
申请日：2005-12-06
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
Inventor： 野泽亮
CPC classification number: G09G3/006 , G09G3/3208 , G09G3/3648
Abstract: 一种测试电路和能够容易且精确的确定缺陷是否存在以及是否存在有缺陷的点的测试方法。本发明的测试电路具有多个移位寄存器，多个门闩电路，多个第一NOR电路，多个第二NOR电路，多个第一NAND电路，多个第二NAND电路，以及多个反相器。象素区域内提供的多条源极信号线分别连接于多个门闩电路，并且由最后一级的反相器输出测试输出信号。
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