公开(公告)号：CN101910799A

公开(公告)日：2010-12-08

申请号：CN200980101918.2

申请日：2009-01-09

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝产业机器制造株式会社

Inventor： 佐佐木欣一 ,  高桥正雄 ,  浜口昌弘 ,  宫部崇 ,  桑原豪 ,  梅村时博

IPC: G01D5/353 ,  G01C19/64 ,  G02F1/01

CPC classification number: G01C19/721 ,  G01D5/344 ,  G01D5/35351 ,  G01D5/3538 ,  G02B6/024 ,  G02B6/274 ,  G02F1/0134 ,  G02F2203/15 ,  G02F2203/50

Abstract: 本发明的目的在于，提供一种将能进行高精度测定的相位调制法用作光检波手段的光传感器。该光传感器通过利用对于拉应力的在偏振面保持光纤内传播的光的相位变化的差异，在相位调制器件(10)、送光用偏振面保持光纤(23)、线圈状偏振面保持光纤光学元件(30)中使用适当的偏振面保持光纤，由此能够实现能进行高精度测定的光传感器。

公开(公告)号：CN101910799B

公开(公告)日：2012-05-16

申请号：CN200980101918.2

申请日：2009-01-09

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝产业机器制造株式会社

Inventor： 佐佐木欣一 ,  高桥正雄 ,  浜口昌弘 ,  宫部崇 ,  桑原豪 ,  梅村时博

IPC: G01D5/353 ,  G01C19/64 ,  G02F1/01

CPC classification number: G01C19/721 ,  G01D5/344 ,  G01D5/35351 ,  G01D5/3538 ,  G02B6/024 ,  G02B6/274 ,  G02F1/0134 ,  G02F2203/15 ,  G02F2203/50

Abstract: 本发明的目的在于，提供一种将能进行高精度测定的相位调制法用作光检波手段的光传感器。该光传感器通过利用对于拉应力的在偏振面保持光纤内传播的光的相位变化的差异，在相位调制器件(10)、送光用偏振面保持光纤(23)、线圈状偏振面保持光纤光学元件(30)中使用适当的偏振面保持光纤，由此能够实现能进行高精度测定的光传感器。