公开(公告)号：CN101910799A

公开(公告)日：2010-12-08

申请号：CN200980101918.2

申请日：2009-01-09

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝产业机器制造株式会社

Inventor： 佐佐木欣一 ,  高桥正雄 ,  浜口昌弘 ,  宫部崇 ,  桑原豪 ,  梅村时博

IPC: G01D5/353 ,  G01C19/64 ,  G02F1/01

CPC classification number: G01C19/721 ,  G01D5/344 ,  G01D5/35351 ,  G01D5/3538 ,  G02B6/024 ,  G02B6/274 ,  G02F1/0134 ,  G02F2203/15 ,  G02F2203/50

Abstract: 本发明的目的在于，提供一种将能进行高精度测定的相位调制法用作光检波手段的光传感器。该光传感器通过利用对于拉应力的在偏振面保持光纤内传播的光的相位变化的差异，在相位调制器件(10)、送光用偏振面保持光纤(23)、线圈状偏振面保持光纤光学元件(30)中使用适当的偏振面保持光纤，由此能够实现能进行高精度测定的光传感器。

公开(公告)号：CN101910799B

公开(公告)日：2012-05-16

申请号：CN200980101918.2

申请日：2009-01-09

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝产业机器制造株式会社

Inventor： 佐佐木欣一 ,  高桥正雄 ,  浜口昌弘 ,  宫部崇 ,  桑原豪 ,  梅村时博

IPC: G01D5/353 ,  G01C19/64 ,  G02F1/01

CPC classification number: G01C19/721 ,  G01D5/344 ,  G01D5/35351 ,  G01D5/3538 ,  G02B6/024 ,  G02B6/274 ,  G02F1/0134 ,  G02F2203/15 ,  G02F2203/50

Abstract: 本发明的目的在于，提供一种将能进行高精度测定的相位调制法用作光检波手段的光传感器。该光传感器通过利用对于拉应力的在偏振面保持光纤内传播的光的相位变化的差异，在相位调制器件(10)、送光用偏振面保持光纤(23)、线圈状偏振面保持光纤光学元件(30)中使用适当的偏振面保持光纤，由此能够实现能进行高精度测定的光传感器。

公开(公告)号：CN102037366A

公开(公告)日：2011-04-27

申请号：CN200980118555.3

申请日：2009-05-27

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝产业机器制造株式会社

Inventor： 高桥正雄 ,  佐藤纯一 ,  宫部崇 ,  梅村时博 ,  桑原豪

IPC: G01R15/24

CPC classification number: G01R15/242

Abstract: 本发明提供的光学电压传感器具备：偏振光学系统(15、16)，与从光源(12)入射的光的光轴垂直，并且，将光轴(12)配置为中心轴，使入射的光偏振到预定的基准状态；电光元件(17)，与光轴垂直，并且，将光轴配置为中心轴，当被施加测定对象的电压时，根据被施加的所述电压，使由偏振光学系统(15、16)偏振后的光发生偏振；以及检偏器(18)，与光轴垂直，并且，将光轴配置为中心轴，检测由电光元件(17)偏振后的光，对将入射的光信号转换为电信号的检测器(21)照射光。