公开(公告)号：CN100504421C

公开(公告)日：2009-06-24

申请号：CN03809365.0

申请日：2003-02-17

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝植物系统和服务公司

Inventor： 井上良之 ,  长谷川博 ,  高桥伸二 ,  小川浩昭 ,  关户忍

IPC: G01R31/34 ,  G01R31/06 ,  G01R31/12

CPC classification number: G01R31/34 ,  G01M3/16 ,  G01M3/40 ,  G01R31/06 ,  G01R31/1263 ,  G01R31/346

Abstract: 根据本发明的线圈退化诊断方法，用绝缘层覆盖直接用介质冷却的导体，线圈由要安装在绝缘层中的内部电极构成，AC电压加在线圈的导体上，通过面对线圈的电位测量探头测量内部电极的电位，并且如果测得的电位高于正常线圈的电位，则确定介质从导体泄漏到绝缘层，并且其绝缘退化。根据上述结构，可以提供改善的线圈退化诊断方法和适用于该诊断方法的改善的线圈退化诊断装置，通过简便的过程，能够容易、精确和可靠的检测当用水直接冷却导体的线圈由于水从导体泄漏到绝缘层中产生的绝缘退化。

公开(公告)号：CN1898575A

公开(公告)日：2007-01-17

申请号：CN200480038510.2

申请日：2004-10-22

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝设备系统和服务公司

Inventor： 井上良之 ,  关户忍 ,  岛田秀行 ,  长谷川博 ,  小山充彦 ,  金岩浩志 ,  大野伸二 ,  外崎信之

IPC: G01R31/34

Abstract: 本发明的线圈剩余寿命推定方法，包括：第1工序，确认来自导体的冷却水是否泄漏到绝缘层，在上述导体冷却水泄漏到绝缘层的情况下，进行对线圈的绝缘破坏电压的推定所需的测量，推定线圈的绝缘破坏电压；第2工序，根据上述线圈今后的运转条件，非破坏性地推定线圈的绝缘破坏电压今后的下降曲线；第3工序，对通过第1工序及第2工序求出的数据进行外推，求出绝缘破坏电压下降至运转上述线圈所需电压的时期。根据上述方法，能够提供一种在绝缘层内安装了内部电极的线圈中不抽取线圈、非破坏性地推定绝缘层的绝缘破坏电压，并且根据推定出的绝缘破坏电压来推定剩余寿命的剩余寿命推定方法。

公开(公告)号：CN1650185A

公开(公告)日：2005-08-03

申请号：CN03809365.0

申请日：2003-02-17

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝植物系统和服务公司

Inventor： 井上良之 ,  长谷川博 ,  高桥伸二 ,  小川浩昭 ,  关户忍

IPC: G01R31/34 ,  G01R31/06 ,  G01R31/12

CPC classification number: G01R31/34 ,  G01M3/16 ,  G01M3/40 ,  G01R31/06 ,  G01R31/1263 ,  G01R31/346

Abstract: 根据本发明的线圈退化诊断方法，用绝缘层覆盖直接用介质冷却的导体，线圈由要安装在绝缘层中的内部电极构成，AC电压加在线圈的导体上，通过面对线圈的电位测量探头测量内部电极的电位，并且如果测得的电位高于正常线圈的电位，则确定介质从导体泄漏到绝缘层，并且其绝缘退化。根据上述结构，可以提供改善的线圈退化诊断方法和适用于该诊断方法的改善的线圈退化诊断装置，通过简便的过程，能够容易、精确和可靠的检测当用水直接冷却导体的线圈由于水从导体泄漏到绝缘层中产生的绝缘退化。

公开(公告)号：CN1054480C

公开(公告)日：2000-07-12

申请号：CN96109403.6

申请日：1996-08-08

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 高桥伸二 ,  田代和夫 ,  岛田秀行 ,  长野进 ,  长谷川博

IPC: H02K11/00 ,  G01R31/34

CPC classification number: G01R31/34 ,  H02K11/20

Abstract: 一种用于旋转电机的静电电容测量装置，包括一个架体，具有使该架体可以容纳在转子本体与定子绕组之间间隙中的尺寸，一个支持体，可拆卸地固定在转子本体上，并且适合于在间隙范围内可移动地支持架体，以及一个测量元件，安装在架体上，在架体面对定子绕组的侧面上，并且适合于测量定子绕组的静电电容，其中水渗入定子绕组的绝缘层的程度是根据取自该测量元件的测量数据加以确定。

公开(公告)号：CN1148751A

公开(公告)日：1997-04-30

申请号：CN96109403.6

申请日：1996-08-08

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 高桥伸二 ,  田代和夫 ,  岛田秀行 ,  长野进 ,  长谷川博

IPC: H02K11/00 ,  G01R31/34

CPC classification number: G01R31/34 ,  H02K11/20

Abstract: 一种用于旋转电机的静电电容测量装置，包括一个架体，具有使该架体可以容纳在转子本体与定子绕组之间间隙中的尺寸，一个支持体，可拆卸地固定在转子本体上，并且适合于在间隙范围内可移动地支持架体，以及一个测量元件，安装在架体上，在架体面对定子绕组的侧面上，并且适合于测量定子绕组的静电电容，其中水渗入定子绕组的绝缘层的程度是根据取自该测量元件的测量数据加以确定。

公开(公告)号：CN100523852C

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200480038510.2

申请日：2004-10-22

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝设备系统和服务公司

Inventor： 井上良之 ,  关户忍 ,  岛田秀行 ,  长谷川博 ,  小山充彦 ,  金岩浩志 ,  大野伸二 ,  外崎信之

IPC: G01R31/34

Abstract: 本发明的线圈剩余寿命推定方法，包括：第1工序，确认来自导体的冷却水是否泄漏到绝缘层，在上述导体冷却水泄漏到绝缘层的情况下，进行对线圈的绝缘破坏电压的推定所需的测量，推定线圈的绝缘破坏电压；第2工序，根据上述线圈今后的运转条件，非破坏性地推定线圈的绝缘破坏电压今后的下降曲线；第3工序，对通过第1工序及第2工序求出的数据进行外推，求出绝缘破坏电压下降至运转上述线圈所需电压的时期。根据上述方法，能够提供一种在绝缘层内安装了内部电极的线圈中不抽取线圈、非破坏性地推定绝缘层的绝缘破坏电压，并且根据推定出的绝缘破坏电压来推定剩余寿命的剩余寿命推定方法。