公开(公告)号：CN1898575A

公开(公告)日：2007-01-17

申请号：CN200480038510.2

申请日：2004-10-22

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝设备系统和服务公司

Inventor： 井上良之 ,  关户忍 ,  岛田秀行 ,  长谷川博 ,  小山充彦 ,  金岩浩志 ,  大野伸二 ,  外崎信之

IPC: G01R31/34

Abstract: 本发明的线圈剩余寿命推定方法，包括：第1工序，确认来自导体的冷却水是否泄漏到绝缘层，在上述导体冷却水泄漏到绝缘层的情况下，进行对线圈的绝缘破坏电压的推定所需的测量，推定线圈的绝缘破坏电压；第2工序，根据上述线圈今后的运转条件，非破坏性地推定线圈的绝缘破坏电压今后的下降曲线；第3工序，对通过第1工序及第2工序求出的数据进行外推，求出绝缘破坏电压下降至运转上述线圈所需电压的时期。根据上述方法，能够提供一种在绝缘层内安装了内部电极的线圈中不抽取线圈、非破坏性地推定绝缘层的绝缘破坏电压，并且根据推定出的绝缘破坏电压来推定剩余寿命的剩余寿命推定方法。

公开(公告)号：CN100523852C

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200480038510.2

申请日：2004-10-22

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝设备系统和服务公司

Inventor： 井上良之 ,  关户忍 ,  岛田秀行 ,  长谷川博 ,  小山充彦 ,  金岩浩志 ,  大野伸二 ,  外崎信之

IPC: G01R31/34

Abstract: 本发明的线圈剩余寿命推定方法，包括：第1工序，确认来自导体的冷却水是否泄漏到绝缘层，在上述导体冷却水泄漏到绝缘层的情况下，进行对线圈的绝缘破坏电压的推定所需的测量，推定线圈的绝缘破坏电压；第2工序，根据上述线圈今后的运转条件，非破坏性地推定线圈的绝缘破坏电压今后的下降曲线；第3工序，对通过第1工序及第2工序求出的数据进行外推，求出绝缘破坏电压下降至运转上述线圈所需电压的时期。根据上述方法，能够提供一种在绝缘层内安装了内部电极的线圈中不抽取线圈、非破坏性地推定绝缘层的绝缘破坏电压，并且根据推定出的绝缘破坏电压来推定剩余寿命的剩余寿命推定方法。