公开(公告)号：CN103765214B

公开(公告)日：2015-10-21

申请号：CN201380001543.9

申请日：2013-08-30

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝医疗系统株式会社

Inventor： 内川明日香 ,  金山省一 ,  池田成

IPC: G01N33/53 ,  G01N33/543 ,  G01N33/553 ,  G01N35/02

CPC classification number: G01N35/0098 ,  G01N21/51 ,  G01N21/82 ,  G01N2035/0439 ,  G01N2035/0453 ,  G01N2035/0455

Abstract: 本发明提供一种检测体检查装置，通过光学地测量源自磁性粒子自身的检查液的浊度或吸光度来对检测对象分子进行定量，目的在于得到高精度的检查结果。磁体（41）对检查容器（31）中收存的、包含检测体和磁性粒子的检查液施加磁场。测光机构具有光源（210）和检测器（220）。光源（210）朝着检查液照射光。检测器（220）检测来自在夹着检查容器（31）与光源（210）对置的位置处设置的检查液的光。磁体（41）具有使磁场的磁通密度在检查容器（31）内的检查液中大致均匀的几何学配置。

公开(公告)号：CN103765214A

公开(公告)日：2014-04-30

申请号：CN201380001543.9

申请日：2013-08-30

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝医疗系统株式会社

Inventor： 内川明日香 ,  金山省一 ,  池田成

IPC: G01N33/53 ,  G01N33/543 ,  G01N33/553 ,  G01N35/02

CPC classification number: G01N35/0098 ,  G01N21/51 ,  G01N21/82 ,  G01N2035/0439 ,  G01N2035/0453 ,  G01N2035/0455 ,  G01N33/54326 ,  G01N35/04 ,  G01N2035/0446

Abstract: 本发明提供一种检测体检查装置，通过光学地测量源自磁性粒子自身的检查液的浊度或吸光度来对检测对象分子进行定量，目的在于得到高精度的检查结果。磁体（41）对检查容器（31）中收存的、包含检测体和磁性粒子的检查液施加磁场。测光机构具有光源（210）和检测器（220）。光源（210）朝着检查液照射光。检测器（220）检测来自在夹着检查容器（31）与光源（210）对置的位置处设置的检查液的光。磁体（41）具有使磁场的磁通密度在检查容器（31）内的检查液中大致均匀的几何学配置。

公开(公告)号：CN101277396A

公开(公告)日：2008-10-01

申请号：CN200810082196.8

申请日：2008-03-07

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 本多浩大 ,  饭田义典 ,  藤原郁夫 ,  池田成

IPC: H04N5/33 ,  G01J5/00

CPC classification number: H01L27/14649 ,  G01J5/0245 ,  G01J5/20

Abstract: 本发明提供一种固体摄像装置，进行热重置处理并消除1/f噪声和固定图形的各像素的偏差。该固体摄像装置具备：像素(3)，与半导体基板热分离；恒流源(60)；信号线(6)，传输流过像素的恒流的电压；导热开关，通过另一端与半导体基板接触切换到像素与半导体基板热绝缘的第1状态，或者通过另一端与像素接触切换到像素被半导体基板热短路的第2状态；信号检测部(7)，与信号线电容耦合，在第1状态下保持与信号线上的信号(Vs1＝Vdd－Vd0+dVsh+dV)相对应的基准电压(Vc1)，在第2状态下检测基准电压减去与入射光相对应的电压成分(dV′)的第2电压(Vc1－Vd′－dVsh′)。