公开(公告)号：CN1797583A

公开(公告)日：2006-07-05

申请号：CN200510103952.7

申请日：2005-09-16

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 森尾美菜子 ,  立泽之康 ,  兼重敏彦 ,  宇野徹 ,  三原直人 ,  森野浩明

IPC: G11B20/10 ,  G11B20/12 ,  G11B20/18 ,  G11B7/00

CPC classification number: G11B20/1883 ,  G11B2220/20

Abstract: 本发明提供了存储缺陷管理信息的信息存储介质、替换缺陷管理信息的方法以及替换缺陷管理信息的装置。多个缺陷管理区(DMA设置组1到N)被以环形形式以这样的方式使用，使得DMA的缺陷管理信息替换并被记录在下一个备用区中，同时DMA被假定为仍旧可被完全重写(例如，当前使用的DMA设置#1－1到#4－1被替换为下一个DMA设置#1－2到#4－2)，并且当缺陷管理信息直到最后备用区(DMA设置#1－N到#4－N)的转换结束时，过程再次返回到第一缺陷管理区。