公开(公告)号：CN1797583A

公开(公告)日：2006-07-05

申请号：CN200510103952.7

申请日：2005-09-16

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 森尾美菜子 ,  立泽之康 ,  兼重敏彦 ,  宇野徹 ,  三原直人 ,  森野浩明

IPC: G11B20/10 ,  G11B20/12 ,  G11B20/18 ,  G11B7/00

CPC classification number: G11B20/1883 ,  G11B2220/20

Abstract: 本发明提供了存储缺陷管理信息的信息存储介质、替换缺陷管理信息的方法以及替换缺陷管理信息的装置。多个缺陷管理区(DMA设置组1到N)被以环形形式以这样的方式使用，使得DMA的缺陷管理信息替换并被记录在下一个备用区中，同时DMA被假定为仍旧可被完全重写(例如，当前使用的DMA设置#1－1到#4－1被替换为下一个DMA设置#1－2到#4－2)，并且当缺陷管理信息直到最后备用区(DMA设置#1－N到#4－N)的转换结束时，过程再次返回到第一缺陷管理区。

公开(公告)号：CN103546694A

公开(公告)日：2014-01-29

申请号：CN201310070573.7

申请日：2013-03-06

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 吉冈容 ,  三原直人 ,  细川纯一

IPC: H04N5/235 ,  H04N5/232

CPC classification number: H04N5/2353 ,  H04N5/2254 ,  H04N5/2351

Abstract: 本发明提供通过向适当曝光转变的充分曝光控制和对拍摄图像亮度的不自然变化的抑制就能够得到容易观察的图像的相机模块。根据实施方式，相机模块（2）具有作为曝光控制部的AE控制部（21）。曝光控制部在通过第一曝光控制使曝光错误达到核心范围内时，将曝光控制从第一曝光控制向第二曝光控制切换。曝光错误表示曝光评价值相对于曝光目标值（22）的偏差。在第二曝光控制中，与第一曝光控制时相比使曝光变化量减少。曝光控制部在通过第二曝光控制使曝光错误达到零级时使曝光控制停止。