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公开(公告)号:CN102856489B
公开(公告)日:2015-02-11
申请号:CN201210097760.X
申请日:2012-04-05
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: G11C11/16 , G11C11/161 , G11C11/1675 , H01L27/228 , H01L43/08
Abstract: 本发明涉及磁阻元件和磁存储器。根据一个实施例,一种磁阻元件包括:存储层(2),其具有垂直且可变的磁化;参考层(4),其具有垂直且恒定的磁化;偏移调整层(6),其具有沿与所述参考层(4)的磁化相反的方向的垂直且恒定的磁化;第一非磁性层(3),其在所述存储层(2)与所述参考层(4)之间;以及第二非磁性层(5),其在所述参考层(4)与所述偏移调整层(6)之间。所述参考层(4)的切换磁场等于或小于所述存储层(2)的切换磁场,且所述参考层(4)的磁弛豫常数大于所述存储层(2)的磁弛豫常数。
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公开(公告)号:CN102856489A
公开(公告)日:2013-01-02
申请号:CN201210097760.X
申请日:2012-04-05
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: G11C11/16 , G11C11/161 , G11C11/1675 , H01L27/228 , H01L43/08
Abstract: 本发明涉及磁阻元件和磁存储器。根据一个实施例,一种磁阻元件包括:存储层(2),其具有垂直且可变的磁化;参考层(4),其具有垂直且恒定的磁化;偏移调整层(6),其具有沿与所述参考层(4)的磁化相反的方向的垂直且恒定的磁化;第一非磁性层(3),其在所述存储层(2)与所述参考层(4)之间;以及第二非磁性层(5),其在所述参考层(4)与所述偏移调整层(6)之间。所述参考层(4)的切换磁场等于或小于所述存储层(2)的切换磁场,且所述参考层(4)的磁弛豫常数大于所述存储层(2)的磁弛豫常数。
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