公开(公告)号：CN1206224A

公开(公告)日：1999-01-27

申请号：CN98103058.0

申请日：1998-07-23

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 竹冈贞巳

IPC: H01L21/70 ,  H01L21/82 ,  H01L27/00

Abstract: 一种半导体集成电路及设计方法是配置选择信号输出电路10,通常动作时,选择信号输出电路通过D端的“0”输入,切换选择器12,将部分电路2的输出输入给扫描触发器11。扫描测试时,向选择信号输出电路10输入来自扫描输入端3的“0”或“1”值的选择信号,该选择信号被输入选择器12。选择信号=0时,选择部分电路2一侧,当选择信号=1时,选择时钟信号的生成电路9的时钟信号。

公开(公告)号：CN1200282C

公开(公告)日：2005-05-04

申请号：CN00108564.6

申请日：1995-08-28

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 本原章 ,  竹冈贞巳 ,  贵志哲司 ,  中岛雅逸

IPC: G01R31/28 ,  G06F11/267 ,  G01R31/3185

CPC classification number: G01R31/318536

Abstract: 分别对一个LSI内部相互串联连接的3个程序块(即输入组件、宏组件及输出组件)进行测试。由宏组件及输出组件之间增设的第1多路转换器、输入组件与宏组件之间增设的第2多路转换器及第1控制寄存器构成第1测试电路。第2测试电路由第3、第4多路转换器及第2控制寄存器同样构成。将多比特的测试用输入信号供给第1多路转换器、第1控制寄存器所保持的信号供给第3多路转换器，以第2控制寄存器保持的信号作测试用信号进行观测。

公开(公告)号：CN1277361A

公开(公告)日：2000-12-20

申请号：CN00108564.6

申请日：1995-08-28

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 本原章 ,  竹冈贞巳 ,  贵志哲司 ,  中岛雅逸

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/318536

Abstract: 分别对一个LSI内部相互串联连接的3个程序块(即输入组件、宏组件及输出组件)进行测试。由宏组件及输出组件之间增设的第1多路转换器、输入组件与宏组件之间增设的第2多路转换器及第1控制寄存器构成第1测试电路。第2测试电路由第3、第4多路转换器及第2控制寄存器同样构成。将多比特的测试用输入信号供给第1多路转换器、第1控制寄存器所保持的信号供给第3多路转换器,以第2控制寄存器保持的信号作测试用信号进行观测。