公开(公告)号：CN101019224A

公开(公告)日：2007-08-15

申请号：CN200680000755.5

申请日：2006-02-14

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 掛水隆史 ,  福本富彦

IPC: H01L21/822 ,  H01L27/04

CPC classification number: H01L21/823481 ,  H01L21/761 ,  H01L27/0203

Abstract: 在由取决于被输入的信号所包含的噪声水平发生劣化的电路构成的模拟电路区(120)和由产生使模拟电路区(120)的电路特性劣化的水平的噪声的电路构成的数字电路区(130)之间，配置仅由产生不使模拟电路区(120)的电路特性劣化(或劣化程度为容许范围)的水平的噪声的电路构成的数字电路区(140)，以使模拟电路区(120)和数字电路区(130)不接触。

公开(公告)号：CN1342345A

公开(公告)日：2002-03-27

申请号：CN00804366.3

申请日：2000-06-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 掛水隆史 ,  镰田刚弘 ,  中居祐二

IPC: H03M13/01 ,  H03M13/33 ,  H04L7/00

CPC classification number: H03M13/33 ,  H03M13/01 ,  H04L1/0046 ,  H04L7/041

Abstract: 一种编码率检测方法,用于对所接收的编码信号的给定编码率进行检测。利用具有与第一编码率对应的频率的第一同步信号,对编码信号进行译码,并生成第一译码信号(ST11),判断第一译码信号是否取得了同步(ST12)。当不能取得同步时,只生成具有与第一编码率的差值小于由下限值以及上限值所决定的编码率的容许值的第二编码率所对应的频率的第二同步信号(ST13、ST17)。

公开(公告)号：CN1159853C

公开(公告)日：2004-07-28

申请号：CN00804366.3

申请日：2000-06-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 掛水隆史 ,  镰田刚弘 ,  中居祐二

IPC: H03M13/01 ,  H03M13/33 ,  H04L7/00

CPC classification number: H03M13/33 ,  H03M13/01 ,  H04L1/0046 ,  H04L7/041

Abstract: 一种编码率检测方法，用于对所接收的编码信号的给定编码率进行检测。利用具有与第一编码率对应的频率的第一同步信号，对编码信号进行译码，并生成第一译码信号(ST11)，判断第一译码信号是否取得了同步(ST12)。当不能取得同步时，只生成具有与第一编码率的差值小于由下限值以及上限值所决定的编码率的容许值的第二编码率所对应的频率的第二同步信号(ST13、ST17)。