公开(公告)号：CN1199535C

公开(公告)日：2005-04-27

申请号：CN99103375.2

申请日：1999-02-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 川岛泰司 ,  志水薰

IPC: H05K3/34 ,  B23K1/08 ,  B23K1/20

CPC classification number: B23K1/018 ,  B23K1/206 ,  B23K3/08 ,  B23K2101/42 ,  C22B25/06 ,  C22B25/08 ,  Y02P10/228

Abstract: 本发明公开了一种焊接装置以及用于分离焊剂和焊剂氧化物的分离剂和方法，焊接装置包括用于熔化焊剂并形成焊剂波形的焊剂波形形成装置、和用分离焊剂和焊剂氧化物的分离剂对焊剂氧化物涂粉的分离剂涂粉装置，其中所述分离剂是从由废料、谷粒或粉、豆粉、种子粒或粉、大豆饼粉和花生壳粉组成的组中选择的任何一个或其混合物。

公开(公告)号：CN1110203A

公开(公告)日：1995-10-18

申请号：CN94120102.3

申请日：1994-11-09

Applicant: 松下电器产业株式会社 ,  株式会社日本源间

Inventor： 川岛泰司 ,  松生昭彦 ,  志水薰 ,  小仓利明 ,  长贵志 ,  目黑赳 ,  茶木英雄

IPC: B23K35/36

CPC classification number: B23K35/268 ,  B23K35/262

Abstract: 所提供的锡-铅合金钎料在易于产生疲劳裂缝的情况下具有高的连接强度。该锡-铅合金钎料含有15—80wt.％铅，0.1—5wt.％银，0.1—10wt.％锑，和0.0005—0.3wt.％磷，其余量为锡。

公开(公告)号：CN1049379C

公开(公告)日：2000-02-16

申请号：CN94120102.3

申请日：1994-11-09

Applicant: 松下电器产业株式会社 ,  株式会社日本源间

Inventor： 川岛泰司 ,  松生昭彦 ,  志水薰 ,  小仓利明 ,  长嶋贵志 ,  目黑赳 ,  茶木英雄

IPC: B23K35/26

CPC classification number: B23K35/268 ,  B23K35/262

Abstract: 所提供的锡-铅合金钎料在易于产生疲劳裂缝的情况下具有高的连接强度。该锡-铅合金钎料含有15-80wt.%铅，0.1-5wt.%银，0.1-10wt.%锑，和0.0005-0.3wt.%磷，其余量为锡。

公开(公告)号：CN1237874A

公开(公告)日：1999-12-08

申请号：CN99103375.2

申请日：1999-02-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 川岛泰司 ,  志水薰

IPC: H05K3/34 ,  B23K1/08 ,  B23K1/20

CPC classification number: B23K1/018 ,  B23K1/206 ,  B23K3/08 ,  B23K2101/42 ,  C22B25/06 ,  C22B25/08 ,  Y02P10/228

Abstract: 本发明公开了一种焊接装置以及用于分离焊剂和焊剂氧化物的分离剂和方法，焊接装置包括用于熔化焊剂并形成焊剂波形的焊剂波形形成装置、和用分离焊剂和焊剂氧化物的分离剂对焊剂氧化物涂粉的分离剂涂粉装置，其中所述分离剂是从由废料、谷粒或粉、豆粉、种子粒或粉、大豆饼粉和花生壳粉组成的组中选择的任何一个或其混合物。

公开(公告)号：CN101233406B

公开(公告)日：2012-09-26

申请号：CN200680027287.0

申请日：2006-06-30

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 川岛泰司

IPC: G01N1/10 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01N1/125

Abstract: 本发明提供一种简易且迅速地制作用于对熔融金属中含有的杂质的含量高精度地进行分析的分析用金属试样的方法及装置。更详细地说，根据本发明的金属试样的制作方法，使用具有用于提取熔融金属的具备薄的试样提取空间的薄厚适宜的模具、和能够对该模具自由地进行开闭操作的开闭操作部的金属试样制作装置，并使提取出的熔融金属急速地冷却，由此，使包含在已熔融金属内的杂质不偏析而凝固，从而制作高精度分析用的金属试样。

公开(公告)号：CN101233406A

公开(公告)日：2008-07-30

申请号：CN200680027287.0

申请日：2006-06-30

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 川岛泰司

IPC: G01N1/10 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01N1/125

Abstract: 本发明提供一种简易且迅速地制作用于对熔融金属中含有的杂质的含量高精度地进行分析的分析用金属试样的方法及装置。更详细地说，根据本发明的金属试样的制作方法，使用具有用于提取熔融金属的具备薄的试样提取空间的薄厚适宜的模具、和能够对该模具自由地进行开闭操作的开闭操作部的金属试样制作装置，并使提取出的熔融金属急速地冷却，由此，使包含在已熔融金属内的杂质不偏析而凝固，从而制作高精度分析用的金属试样。