公开(公告)号：CN100440382C

公开(公告)日：2008-12-03

申请号：CN200410069823.6

申请日：2004-07-09

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 贞方博之 ,  野村浩一郎 ,  坂元正二

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/14 ,  G11C29/46 ,  G11C2029/0405 ,  G11C2029/2602

Abstract: 本发明提供一种半导体集成电路装置。以往，当利用存储器BIST电路进行烧入测试时，必须从外部对存储器BIST电路的复位动作进行控制。本发明中，在存储器宏的烧入测试时利用存储器BIST电路，BIST复位控制电路检测从存储器BIST电路来的存储器BIST测试结束信号，并自动地进行存储器BIST电路的复位。因此，可以利用存储器BIST电路对存储器宏进行反复连续的测试，可以实施存储器BIST电路的烧入测试。

公开(公告)号：CN1577632A

公开(公告)日：2005-02-09

申请号：CN200410069823.6

申请日：2004-07-09

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 贞方博之 ,  野村浩一郎 ,  坂元正二

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/14 ,  G11C29/46 ,  G11C2029/0405 ,  G11C2029/2602

Abstract: 以往，当利用存储器BIST电路进行烧入测试时，必须从外部对存储器BIST电路的复位动作进行控制。本发明中，在存储器宏的烧入测试时利用存储器BIST电路，BIST复位控制电路检测从存储器BIST电路来的存储器BIST测试结束信号，并自动地进行存储器BIST电路的复位。因此，可以利用存储器BIST电路对存储器宏进行反复连续的测试，可以实施存储器BIST电路的烧入测试。