一种4H-SiC沟槽绝缘栅双极型晶体管

    公开(公告)号:CN111524970A

    公开(公告)日:2020-08-11

    申请号:CN202010023544.5

    申请日:2020-01-09

    Abstract: 本发明提出了一种4H‑SiC沟槽绝缘栅双极型晶体管,包括N‑电压阻挡层、N‑型缓冲层、P型沟道区、P+欧姆接触区、N+发射区、P+集电极区、沟槽栅极以及栅极氧化层等;本发明相对于传统结构,主要提出了在集电极将P+集电区深入到了N‑型的电压阻挡层,同时也引入了间隔分布的p‑poly/p‑SiC异质结。由于新结构中将P+集电区深入到了N‑型电压阻挡层的内部,所以器件正常工作时其可以进行正常的空穴注入,从而改善正向特性;同时由于集电极区域引入了异质结,其为N‑电压阻挡层中载流子的泄放提供了额外的低阻通路,所以器件关断时电子的泄放速度明显加快,进而减小了拖尾电流,降低了关断损耗。

    4H-SiC沟槽绝缘栅双极型晶体管

    公开(公告)号:CN111524971A

    公开(公告)日:2020-08-11

    申请号:CN202010023568.0

    申请日:2020-01-09

    Abstract: 本发明公开了4H‑SiC沟槽绝缘栅双极型晶体管,包括P+欧姆接触区、N+发射区、P型沟道区、载流子存储层、N‑电压阻挡层、N+缓冲层、P+集电区、P型多晶硅区、沟槽型栅极;本发明相对于传统结构,主要提出了在器件集电极一侧引入了沟槽型的p‑poly/p‑SiC异质结。由于异质结做成了沟槽形状,所以器件在正常导通时可以提升空穴注入效率,使得器件的通态压降降低;同时新结构由于异质结的引入,其在关断的过程中为电压阻挡层中载流子的泄放提供了低阻通道,可以加速电子的抽取,进一步降低了关断损耗。

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