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公开(公告)号：CN110766664B
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN201910933616.7
申请日：2019-09-29
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于深度学习技术的电子元器件外观不良品的自动检测方法。该方法包括：数据集收集与标记；对数据集的图像进行数据增强；构建一个简单高效的卷积神经网络模型；将数据集样本图片输入到上述卷积神经网络模型中进行迭代训练，获得最佳检测模型；将采集得到的图像输入到深度学习检测模型中进行图像类别的识别；将深度学习检测模型识别的不良品进行生产线上的自动剔除，从而提高产品品质。
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