公开(公告)号：CN107064063A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201610508388.5

申请日：2016-06-28

Applicant: 暨南大学

Inventor： 余健辉 ,  陈哲 ,  董华卓 ,  关俊文 ,  唐洁媛 ,  李东泉 ,  关贺元 ,  卢惠辉

IPC: G01N21/45

CPC classification number: G01N21/45 ,  G01N2021/458

Abstract: 本发明公开一种基于去芯侧边抛磨光纤的折射率监测装置及方法，该装置包括通过单模通信光纤依次连接的宽谱光源、去芯侧边抛磨光纤和光频谱分析仪，所述去芯侧边抛磨光纤的抛磨区由单模通信光纤经侧边抛磨而成，依次包括第一纤芯完整区、第一抛磨过渡区、抛磨平坦区、第二抛磨过渡区和第二纤芯完整区，所述抛磨过渡区是将单模通信光纤的光纤纤芯部分抛磨掉形成的，所述抛磨平坦区是将单模通信光纤的光纤纤芯全部抛磨掉形成的，将去芯侧边抛磨光纤作为传感头浸入待测介质中，宽谱光源发出的信号光经过单模通信光纤后入射去芯侧边抛磨光纤中，发生多模干涉。