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公开(公告)号：CN100343627C
公开(公告)日：2007-10-17
申请号：CN02103394.3
申请日：2002-02-04
Applicant: 日立金属株式会社
IPC: G01C17/28
CPC classification number: G01R33/09 , G01R33/0206
Abstract: 所公开的方位计具有用于施加偏置磁场的薄膜平面线圈以及与此线圈的相对导体边交叉设置的至少一对磁阻元件对(设为第一与第二磁阻薄板)。此平面线圈具有至少一对相对导体边(设为第一与第二边)。此第一磁阻薄板与此第一边交叉成大于30°而小于90°的角。此第二磁阻薄板与此第二边交叉成大于30°而小于90°的角。在对磁阻薄板分别施加正反方向的偏置磁场的同时，测定磁阻元件对的中间电位，根据此两中间电位的差而检测出方位。
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公开(公告)号：CN1941082A
公开(公告)日：2007-04-04
申请号：CN200610139698.0
申请日：2006-09-28
Applicant: 日立金属株式会社
Abstract: 一种具有由SVGMR元件组成的磁性传感器的磁性编码器，其中，信号输出具有磁性介质上的磁性区域的周期的一半。所述磁性编码器包括磁性介质和磁性传感器，在磁性介质上，第一磁性区域和第二区域沿介质延伸方向被相反磁化并且彼此连续和交替地设置，磁性传感器具有偶数个SVGMR元件并沿介质延伸方向相对于介质可移动。所有SVGMR元件的固定磁化层的磁化指向沿介质延伸方向的相同方向。磁性传感器中的偶数个SVGMR元件的每一个沿介质延伸方向彼此间隔第一磁性区域长度加上第二磁性区域长度的和的一半，并且偶数个SVGMR元件被串联连接，使得磁性传感器的电阻变化周期为介质上的第一和第二磁性区域的周期长度的一半，并且可以获得高分辨率的信号输出。
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公开(公告)号：CN105143902B
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201480016300.7
申请日：2014-03-17
Applicant: 日立金属株式会社
CPC classification number: G01R33/0041 , G01R33/093 , H01L27/22 , H01L43/08
Abstract: 本发明提供一种以更少的耗电、尤其是更少的反馈电流工作的磁传感器。该磁传感器的特征在于，具有：在宽度方向上依次互相平行地配置并被串联地电连接的第1电流线、第2电流线以及第3电流线；和磁阻效应元件，配置于该第2电流线的下部，沿着该第2电流线延伸的方向而延伸，通过在上述第1电流线、第2电流线以及第3电流线中流动的电流所产生的感应磁场，电阻发生变化；宽度方向上的从上述第1电流线的外侧到上述第3电流线的外侧为止的长度Ls和上述磁阻效应元件在宽度方向上的长度Wg满足下述(1)式：Ls/Wg≤5 (1)。
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公开(公告)号：CN107110920A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201580062396.5
申请日：2015-11-18
Applicant: 日立金属株式会社
Abstract: 本发明提供一种磁传感器，其具备：基板；与电源端子连接且磁敏方向相同的两个磁阻效应元件；与接地端子连接且磁敏方向相同的两个磁阻效应元件；以及包含第一偏置施加部和第二偏置施加部的偏置线圈，该第一偏置施加部向配置有与电源端子连接的磁阻效应元件的一方以及与接地端子连接的磁阻效应元件的一方的第一区域施加偏置磁场，该第二偏置施加部向配置有与电源端子连接的磁阻效应元件的另一方以及与接地端子连接的磁阻效应元件的另一方的第二区域施加偏置磁场，所述第一偏置施加部的截面积与所述第二偏置施加部的截面积之差为35.4％以下。
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公开(公告)号：CN1851474A
公开(公告)日：2006-10-25
申请号：CN200610004152.4
申请日：2006-02-20
Applicant: 日立金属株式会社
CPC classification number: G01P3/22 , G01P15/0891 , G01P15/18 , G01P2015/084 , G11B19/04 , H04M2250/12
Abstract: 本发明提供一种下落检测装置，可以检测伴随有旋转的下落。其根据加速度检测部输出的加速度信号的波形、或者角速度检测部输出的角速度信号来检测伴随有旋转的下落。此外，根据加速度检测部检测的加速度和角速度检测部检测的角速度算出保护对象机器的重心点加速度。由此，即使在保护对象机器旋转下落的情况下，也可以通过所检测的加速度或者角速度检测机器的下落。此外，通过运算不受旋转影响的重心点加速度，即使保护对象机器旋转也可以高精度地检测机器的下落。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1851474B
公开(公告)日：2012-12-05
申请号：CN200610004152.4
申请日：2006-02-20
Applicant: 日立金属株式会社
CPC classification number: G01P3/22 , G01P15/0891 , G01P15/18 , G01P2015/084 , G11B19/04 , H04M2250/12
Abstract: 本发明提供一种下落检测装置，可以检测伴随有旋转的下落。其根据加速度检测部输出的加速度信号的波形、或者角速度检测部输出的角速度信号来检测伴随有旋转的下落。此外，根据加速度检测部检测的加速度和角速度检测部检测的角速度算出保护对象机器的重心点加速度。由此，即使在保护对象机器旋转下落的情况下，也可以通过所检测的加速度或者角速度检测机器的下落。此外，通过运算不受旋转影响的重心点加速度，即使保护对象机器旋转也可以高精度地检测机器的下落。
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公开(公告)号：CN100510769C
公开(公告)日：2009-07-08
申请号：CN200510081975.2
申请日：2005-07-14
Applicant: 日立金属株式会社
CPC classification number: G01R33/0206 , B82Y25/00 , G01R33/093
Abstract: 一种使用自旋阀巨磁阻元件的方位角测量仪，其制造工艺简单，能够实现尺寸小型化并且有助于降低功耗。该方位角测量仪包括具有两对平行的相对边的四边形平面线圈，以及四个自旋阀巨磁阻元件对，每对元件定位在平行于线圈的平面上。每对的两个元件的纵向方向彼此垂直相交，并且仅与平面线圈的一对相对边的相应边或同一边以基本上45度交叉。两个元件中的一个元件的固定层在其纵向方向被磁化另一个元件的固定层在与该一个元件的固定层相同的方向被磁化。该对元件在一端彼此相连。在用于测量的电压被施加在另一端之间时，从彼此连接的元件端提取中点电势，以便确定方位角。
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公开(公告)号：CN1369689A
公开(公告)日：2002-09-18
申请号：CN02103394.3
申请日：2002-02-04
Applicant: 日立金属株式会社
IPC: G01C17/32
CPC classification number: G01R33/09 , G01R33/0206
Abstract: 所公开的方位计具有用于施加偏置磁场的薄膜平面线圈以及与此线圈的相对导体边交叉设置的至少一对磁阻元件对(设为第一与第二磁阻薄板)。此平面线圈具有至少一对相对导体边(设为第一与第二边)。此第一磁阻薄板与此第一边交叉成大于30°而小于90°的角。此第二磁阻薄板与此第二边交叉成大于30°而小于90°的角。在对磁阻薄板分别施加正反方向的偏置磁场的同时,测定磁阻元件对的中间电位,根据此两中间电位的差而检测出方位。
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公开(公告)号：CN107110920B
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201580062396.5
申请日：2015-11-18
Applicant: 日立金属株式会社
Abstract: 本发明提供一种磁传感器，其具备：基板；与电源端子连接且磁敏方向相同的两个磁阻效应元件；与接地端子连接且磁敏方向相同的两个磁阻效应元件；以及包含第一偏置施加部和第二偏置施加部的偏置线圈，该第一偏置施加部向配置有与电源端子连接的磁阻效应元件的一方以及与接地端子连接的磁阻效应元件的一方的第一区域施加偏置磁场，该第二偏置施加部向配置有与电源端子连接的磁阻效应元件的另一方以及与接地端子连接的磁阻效应元件的另一方的第二区域施加偏置磁场，所述第一偏置施加部的截面积与所述第二偏置施加部的截面积之差为35.4％以下。
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公开(公告)号：CN103518120A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201280022191.0
申请日：2012-08-10
Applicant: 日立金属株式会社
IPC: G01D5/245
CPC classification number: G01R33/09 , G01B7/003 , G01D5/24438 , G01D5/2451
Abstract: 提供一种在与磁介质之间隔开空隙、能够提高移动量的检测精度的编码器。磁介质在上述相对移动方向上以预先确定的间距λm被充磁，磁传感器具备多个磁阻效应元件，该多个磁阻效应元件的电阻值根据所配置的场所的磁场而变化，以配置该磁阻效应元件的位置为基准位置，除了该基准位置的磁阻效应元件以外，作为高次谐波降低图案的磁阻效应元件分别被配置在如下位置：设P（n）为第n个素数，使用N＞3的自然数N，从上述基准位置向上述相对移动方向的至少一侧离开λm／（2·P（n））（其中N≥n＞1）的位置；以及从偏离λm／（2·P（L））（其中1＜L＜N）的位置进一步偏离λm／（2·P（L＋1））的位置。
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