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公开(公告)号：CN107037071B
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN201611016231.7
申请日：2016-11-18
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 本发明提供在不使装置大型化的情况下提高气体成分的检测精度的产生气体分析装置。产生气体分析装置（200）具备：加热部（10），加热试料（S）而产生气体成分（G）；检测机构（110），检测在加热部生成的气体成分；气体流路（41），连接加热部与检测机构之间，供气体成分与将该气体成分向检测机构引导的运载气体（C）的混合气体（M）流通；该产生气体分析装置的特征在于，气体流路具有向外部开放的分支路（42），分支路具有调整混合气体向外部的排出流量的排出流量调整机构（42a），还具备流量控制部（216），该流量控制部基于来自检测机构的检测信号控制排出流量调整机构，使得该检测信号在既定的范围内。
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公开(公告)号：CN107064396B
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN201611016224.7
申请日：2016-11-18
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 本发明涉及能将检测灵敏度的仪器误差和时刻误差变动等简便地补正并以高精度对测定对象进行定量的产生气体分析装置的校正方法。在具备：加热试料而产生气体成分的加热部、将气体成分离子化而生成离子的离子源、对离子进行质量分析而检测气体成分的质量分析计的产生气体分析装置的校正方法中，使用作为测定对象而包含气体成分的标准试料，（1）校正关于标准试料的气体成分获得的质谱的谱位置，（2）从标准试料的气体成分的色谱的面积S与基准面积Ss而计算测定实际的试料的气体成分的色谱的面积时的灵敏度补正系数Cs=Ss/S，（3）从色谱的给出最大峰值的时间t与基准时间ts计算对测定实际的试料的气体成分时的加热部内的试料的加热速度进行补正的加热补正系数H=t/ts。
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公开(公告)号：CN108627594A
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201810209114.5
申请日：2018-03-14
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 本发明提供塑料标准物质及其制造方法，其能够用1个或几个大小(质量)的粒子实现导入到分析装置中所需的试样的量，并且每个粒子的质量的偏差小，而且能够简单且高精度地进行分析操作。在塑料基材(2)中分散有1种以上的化学物质(4)且用于化学物质的浓度的分析的塑料标准物质(10)中，塑料标准物质呈粒状，50个以上的塑料标准物质的每个的最大直径(Dmax)的平均值(Dav)为0.1mm～1.0mm，最大直径(Dmax)的最大值和最小值相对于平均值(Dav)的差(Dv)为0.2mm以下，并且50个以上的塑料标准物质的每个的质量(W)的平均值(Wav)为0.1mg～0.5mg，质量(W)的最大值和最小值相对于平均值(Wav)的差(Wv)为0.1mg以下。
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公开(公告)号：CN106908307B
公开(公告)日：2019-06-28
申请号：CN201611016238.9
申请日：2016-11-18
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 本发明提供在不令冷却能力和装置整体过大的情况下在短时间内冷却试料架、提高分析作业的效率的产生气体分析装置。产生气体分析装置（200）具备保持试料（S）的试料架（20）、将试料架收纳于自身的内部并加热试料而产生气体成分（G）的加热部（10）、检测在加热部生成的气体成分的检测机构（110），其特征在于，还具备：试料架支承部（204L），在加热部的内外的既定位置可移动地支承试料架；冷却部（30），配置于加热部的外侧且在使试料架移动至加热部的外侧、能将试料取出或放入的排出位置时，直接或间接地接触试料架而将该试料架冷却。
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公开(公告)号：CN106970173A
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201611015746.5
申请日：2016-11-18
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 产生气体分析装置具备：试料架、加热试料而产生气体成分的加热部、将气体成分离子化而生成离子的离子源、对离子进行质量分析而检测气体成分的质量分析计、供气体成分与将其向质量分析计引导的运载气体的混合气体流通的气体流路，产生气体分析方法中具有：排出流量调整工序，调整分支路的混合气体向外部的排出流量；冷却工序，使试料架接触冷却部而对其进行冷却；补正工序，使用作为测定对象而包含气体成分的标准试料，（1）校正质谱的谱位置，（2）计算灵敏度补正系数Cs=Ss/S，（3）计算对测定实际的试料的气体成分时的加热部内的试料的加热速度进行补正的加热补正系数H=t/ts。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109283264B
公开(公告)日：2023-02-28
申请号：CN201810770468.7
申请日：2018-07-13
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N30/02
Abstract: 提供产生气体分析装置和产生气体分析方法，提高气体成分的检测精度而不会使装置大型化。产生气体分析装置(200)具有：气体成分产生部(10)；检测气体成分(G)的检测单元(110)；混合气体流路(41)，将气体成分产生部与检测单元之间连接起来，供气体成分与将气体成分向所述检测单元引导的载气(C)的混合气体(M)流动，产生气体分析装置(200)还具有：分支路(42)，从混合气体流路分支而向外部开放；惰性气体流路(19f)，在分支路的下游侧与混合气体流路在合流部(45)处合流，供惰性气体(T)流动；调整载气的流量(F1)的第一流量调整机构(18v)；调整惰性气体流路中流动的惰性气体的流量(F4)的第二流量调整机构(19v)；流量控制部(216)，控制第二流量调整机构使得向检测单元引导的混合气体的流量成为规定值。
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公开(公告)号：CN109283264A
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201810770468.7
申请日：2018-07-13
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N30/02
CPC classification number: H01J49/0422 , G01N33/0021 , G01N33/442 , H01J49/0031 , G01N30/02
Abstract: 提供产生气体分析装置和产生气体分析方法，提高气体成分的检测精度而不会使装置大型化。产生气体分析装置(200)具有：气体成分产生部(10)；检测气体成分(G)的检测单元(110)；混合气体流路(41)，将气体成分产生部与检测单元之间连接起来，供气体成分与将气体成分向所述检测单元引导的载气(C)的混合气体(M)流动，产生气体分析装置(200)还具有：分支路(42)，从混合气体流路分支而向外部开放；惰性气体流路(19f)，在分支路的下游侧与混合气体流路在合流部(45)处合流，供惰性气体(T)流动；调整载气的流量(F1)的第一流量调整机构(18v)；调整惰性气体流路中流动的惰性气体的流量(F4)的第二流量调整机构(19v)；流量控制部(216)，控制第二流量调整机构使得向检测单元引导的混合气体的流量成为规定值。
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公开(公告)号：CN106908307A
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201611016238.9
申请日：2016-11-18
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
CPC classification number: G01N1/44 , G01N1/42 , G01N33/0009 , G01N35/00584
Abstract: 本发明提供在不令冷却能力和装置整体过大的情况下在短时间内冷却试料架、提高分析作业的效率的产生气体分析装置。产生气体分析装置（200）具备保持试料（S）的试料架（20）、将试料架收纳于自身的内部并加热试料而产生气体成分（G）的加热部（10）、检测在加热部生成的气体成分的检测机构（110），其特征在于，还具备：试料架支承部（204L），在加热部的内外的既定位置可移动地支承试料架；冷却部（30），配置于加热部的外侧且在使试料架移动至加热部的外侧、能将试料取出或放入的排出位置时，直接或间接地接触试料架而将该试料架冷却。
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公开(公告)号：CN106970173B
公开(公告)日：2020-06-19
申请号：CN201611015746.5
申请日：2016-11-18
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 产生气体分析装置具备：试料架、加热试料而产生气体成分的加热部、将气体成分离子化而生成离子的离子源、对离子进行质量分析而检测气体成分的质量分析计、供气体成分与将其向质量分析计引导的运载气体的混合气体流通的气体流路，产生气体分析方法中具有：排出流量调整工序，调整分支路的混合气体向外部的排出流量；冷却工序，使试料架接触冷却部而对其进行冷却；补正工序，使用作为测定对象而包含气体成分的标准试料，（1）校正质谱的谱位置，（2）计算灵敏度补正系数Cs=Ss/S，（3）计算对测定实际的试料的气体成分时的加热部内的试料的加热速度进行补正的加热补正系数H=t/ts。
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公开(公告)号：CN109283220A
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201810788044.3
申请日：2018-07-18
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N25/20
Abstract: 提供质量分析装置和质量分析方法。一种质量分析装置(200)，其具有加热含有第一物质和在比第一物质高的温度下气化的第二物质的试样而产生气体成分的加热部(10)，检测通过加热部而生成的气体成分，所述质量分析装置(200)具有：加热控制部(212)，其以第一温度(T1)对加热部进行加热直至达到第一时间(t1)，在超过了第一时间时，对加热部进行加热直至达到使第二物质的气体产生的第二温度(T2)，该第一温度(T1)和第一时间(t1)是预先求出的使第一物质的气体产生而不使第二物质的气体产生的温度和时间条件；以及分析控制部(219)，其在第一温度下，在分配给第一物质的第一测定条件下进行质量分析，直至达到所述第一时间，在第二温度下，在分配给第二物质的第二测定条件下进行质量分析。
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