溅射装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113728123B

    公开(公告)日:2023-11-07

    申请号:CN202080030081.3

    申请日:2020-04-27

    Inventor: 久保田清

    Abstract: 本发明在成膜室内使对靶供给的气体的压力变得均匀,提升形成于基板的薄膜的均匀性。在溅射装置(1)中,在多个靶(30)之中邻接的两块靶(30)的任一者中,均相对于形成于两块靶(30)之间的第一空间(S1),以规定的第一位置关系配置天线(20),并且相对于配置于第一空间(S1)内的气体导入口(41)及气体排气口(51),以规定的第二位置关系配置天线(20)。

    溅镀装置
    2.
    发明公开
    溅镀装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN117043385A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202280020050.9

    申请日:2022-06-29

    Abstract: 本发明遍及靶的整个表面地供给气体。溅镀装置(1)的真空容器(2)包括保持靶(30)的至少一个靶保持器(32)。靶保持器包括:气体导入部(51),导入气体(10);以及一对气体放出口(54),设置于靶周围的至少一部分的相向位置且将气体放出至真空容器内。

    溅射装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113728123A

    公开(公告)日:2021-11-30

    申请号:CN202080030081.3

    申请日:2020-04-27

    Inventor: 久保田清

    Abstract: 本发明在成膜室内使对靶供给的气体的压力变得均匀,提升形成于基板的薄膜的均匀性。在溅射装置(1)中,在多个靶(30)之中邻接的两块靶(30)的任一者中,均相对于形成于两块靶(30)之间的第一空间(S1),以规定的第一位置关系配置天线(20),并且相对于配置于第一空间(S1)内的气体导入口(41)及气体排气口(51),以规定的第二位置关系配置天线(20)。

    等离子体产生用的天线、具有所述天线的等离子体处理装置以及天线构造

    公开(公告)号:CN110291847A

    公开(公告)日:2019-09-27

    申请号:CN201880011433.3

    申请日:2018-02-13

    Abstract: 本发明减小天线的阻抗,并且消除构成电容元件的电极及介电质之间产生的间隙。本发明的天线(3)用于产生感应耦合型等离子体P,且具备至少两个导体要素(31)、设于彼此相邻的导体要素(31)之间且将这些导体要素(31)绝缘的绝缘要素(32)、以及与彼此相邻的导体要素(31)电性串联的电容元件(33),电容元件(33)是由与彼此相邻的导体要素(21)中的一者电性连接的第一电极(33A)、与彼此相邻的导体要素(31)中的另一者电性连接的第二电极(33B)、以及将第一电极(33A)及第二电极(33B)之间的空间充满的液体介电质所构成。

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