公开(公告)号：CN114564397B

公开(公告)日：2025-05-09

申请号：CN202210185716.8

申请日：2022-02-28

Applicant: 无锡江南计算技术研究所

Inventor： 谭坚 ,  刘鑫 ,  陈德训 ,  胡夏晖 ,  武颖颖 ,  相陈伟 ,  陈明津

IPC: G06F11/3668

Abstract: 本发明公开一种基于控制约束的访存测试程序生成方法，包括以下步骤：步骤1、生成控制核心运行的程序，在其中声明可操作的地址空间大小以及首地址，并生成计算核心的代码段；步骤2、生成计算核心访存测试程序，将计算核心的访存首地址设置成控制程序申请的可操作首地址；步骤3、在计算核心访存地址遍历生成时，进行地址访存序列的控制生成；步骤4、根据步骤3中获得的参数，形成对应的测试程序。本发明面向国产向众核异构处理器实现满足约束条件的随机访存测试，另外能够根据访存策略进行定制，对处理器的存储一致性实现有针对性的验证测试，实现了合法且随机的访存测试程序生成。

公开(公告)号：CN115687154A

公开(公告)日：2023-02-03

申请号：CN202211487167.6

申请日：2022-11-25

Applicant: 无锡江南计算技术研究所

Inventor： 王丽一 ,  武颖颖 ,  胡夏晖 ,  尉红梅 ,  姜军 ,  吴伟

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明提供一种基于Csmith随机生成器生成C程序测试用例的方法及装置，属于C程序测试技术领域。该方法包括如下步骤：S1：获取预设概率信息表，通过预设概率信息表获取预设参数；S2：生成器根据预设参数进行初始化；S3：生成器基于初始化信息生成包括main函数、变量类型、其他函数的测试用例程序，在生成main函数时输出测试用例程序的辅助信息；S4：过滤器对生成的程序片段进行安全检查；S5：生成器在过滤器对所有程序片段检查完毕后整理并输出生成的测试用例程序，并根据生成的测试用例程序计算非指针全局变量的校验和，并打印校验和。本发明自动生成大量测试用例，可以高效地暴露更多的问题，并且可根据输入进行定制化操作，节省人力成本。

公开(公告)号：CN114564397A

公开(公告)日：2022-05-31

申请号：CN202210185716.8

申请日：2022-02-28

Applicant: 无锡江南计算技术研究所

Inventor： 谭坚 ,  刘鑫 ,  陈德训 ,  胡夏晖 ,  武颖颖 ,  相陈伟 ,  陈明津

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明公开一种基于控制约束的访存测试程序生成方法，包括以下步骤：步骤1、生成控制核心运行的程序，在其中声明可操作的地址空间大小以及首地址，并生成计算核心的代码段；步骤2、生成计算核心访存测试程序，将计算核心的访存首地址设置成控制程序申请的可操作首地址；步骤3、在计算核心访存地址遍历生成时，进行地址访存序列的控制生成；步骤4、根据步骤3中获得的参数，形成对应的测试程序。本发明面向国产向众核异构处理器实现满足约束条件的随机访存测试，另外能够根据访存策略进行定制，对处理器的存储一致性实现有针对性的验证测试，实现了合法且随机的访存测试程序生成。