PCIe测试平台
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102043748A

    公开(公告)日:2011-05-04

    申请号:CN200910196996.7

    申请日:2009-10-13

    Abstract: 本发明提供了一种PCIe测试平台,包括:第一主机;第二主机;测试板,所述测试板包括位于所述测试板上的PCIe插座,与PCIe插座相连的PCIe交换单元,与PCIe交换单元相连的PCIe插槽和PCIe连接器,所述测试板上的PCIe插座和第一主机以及第二主机相连。本发明可以连接更多的待检测设备,因此可以实现同时对更多的待检测设备进行检测,提高了测试平台的利用率,并且可以实现远距离的测试。

    PCIe测试平台
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102043748B

    公开(公告)日:2012-10-31

    申请号:CN200910196996.7

    申请日:2009-10-13

    Abstract: 本发明提供了一种PCIe测试平台,包括:第一主机;第二主机;测试板,所述测试板包括位于所述测试板上的PCIe插座,与PCIe插座相连的PCIe交换单元,与PCIe交换单元相连的PCIe插槽和PCIe连接器,所述测试板上的PCIe插座和第一主机以及第二主机相连。本发明可以连接更多的待检测设备,因此可以实现同时对更多的待检测设备进行检测,提高了测试平台的利用率,并且可以实现远距离的测试。

Patent Agency Ranking