一种基于YOLOv8模型的PCB缺陷识别方法

    公开(公告)号:CN119107532A

    公开(公告)日:2024-12-10

    申请号:CN202411084821.8

    申请日:2024-08-08

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明公开了一种基于YOLOv8模型的PCB缺陷识别方法,所述方法包括:S1:获取待识别图像集;S2:改进YOLOv8模型,所述YOLOv8模型包括依次连接的Backbone网络、Neck网络和Head网络;改进的方法基于BiFPN双向特征金字塔网络,在其基础上整合了P2特征层,以提升小型目标的检测精度,并采用适合YOLOv8的卷积修改网络连接;引入TA层(Convolutional Triplet Attention Module),以提高模型的识别准确度;设计了全新的CSC模块来替代部分C2f模块,减少模型参数冗余,从而更快速、更精准地定位目标。S3:采用待识别图像集对改进YOLOv8模型进行训练;S4:将待测图像输入训练得到的改进YOLOv8模型中,得到PCB缺陷识别结果。本发明以YOLOv8模型作为基础识别网络,并对其网络模型结构进行改进,提高了YOLOv8模型的检测精度。

    一种基于YOLOv5模型的缺陷PCB检测方法

    公开(公告)号:CN118747748A

    公开(公告)日:2024-10-08

    申请号:CN202410914272.6

    申请日:2024-07-09

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明公开了一种基于YOLOv5模型的缺陷PCB检测方法,所述方法包括:S1:获取缺陷PCB图像集;S2:改进YOLOv5模型,所述YOLOv5模型包括依次连接的Backbone网络、Neck网络和Head网络;在Backbone网络中的每个C3模块后添加通道注意力模块SE;在Neck网络中,使用改进SWPC3模块替代原C3模块;将CIoU损失函数替换为EIoU损失函数;S3:采用缺陷PCB图像集对改进YOLOv5模型进行训练;S4:将待测图像输入训练得到的改进YOLOv5模型中,得到识别结果。本发明以YOLOv5模型作为基础识别网络,并对其网络模型结构进行改进,提高了YOLOv5模型的检测精度。

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