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公开(公告)号：CN119106456A
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202411131470.1
申请日：2024-08-18
Applicant: 无锡先进技术研究院
Abstract: 本发明公开了芯片检测技术领域的一种芯片保护装置和方法，该装置包括控制模块、激励生成模块和检测模块；激励生成模块用于根据所述控制模块产生的随机数生成激励信号，并将激励信号分别传输至所述检测模块和芯片防护层的多条防护线路；检测模块用于根据控制模块配置的预设检测次数，多次接收所述多条防护线路输出的激励反馈信号，并将激励反馈信号与对应的激励信号进行比较，获取多次检测结果；控制模块用于根据多次检测结果记录错误情况，或者根据多次检测结果记录错误情况并根据错误情况输出相应防护措施指令。本发明能够降低检测芯片被破坏情况时输出防护措施的错误率。
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