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发明公开
一种基于G-BRKGA算法优化的异形排样方法审中-实审

公开(公告)号：CN117036535A

公开(公告)日：2023-11-10

申请号：CN202310893752.4

申请日：2023-07-20

Applicant: 无锡信捷电气股份有限公司

Inventor： 张凡 , 吴景涛 , 杨琦 , 姬晓栋 , 吴然

IPC: G06T11/20 , G06N3/126

Abstract: 本发明涉及异形件排样技术领域，具体是一种基于G‑BRKGA算法优化的异形排样方法，包括(1)输入零件的图形信息，获得零件数据；(2)对所述零件数据进行合法性检测，确认是否符合要求，若否，则输出相应异常信息；若是，则进行数据正则化，将零件的最左下角的点设置为原点，用于标记图形位置；(3)根据零件的图形信息，采用滑动轨迹法计算零件与零件之间的碰撞信息，并保存；(4)通过G‑BRKGA算法，优化零件在容器中的排列；(5)将(4)中得到的最优排列方案输出。本方法通过引入分组机制和自适应变异策略，提高了算法的搜索效率和解的质量；通过优化的遗传算法，对不规则图形进行最优排列，以降低生产成本，节省时间开销，以及降低材料损耗。

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