公开(公告)号：CN100370522C

公开(公告)日：2008-02-20

申请号：CN200510078965.3

申请日：2005-06-21

Applicant: TDK株式会社 ,  新科实业有限公司

Inventor： 蜂须贺望 ,  稻毛健治 ,  高桥法男 ,  清水达司 ,  黃柏坚

IPC: G11B5/455 ,  G11B5/39 ,  H01L43/12

Abstract: 本发明提供了一种用于测试TMR元件的方法，该方法包括：测量步骤，通过将具有彼此不同电流值的多个感测电流馈送通过TMR元件来测量TMR元件的多个电阻；计算步骤，由所测TMR效应元件的多个电阻计算电阻变化率；和评估步骤，使用计算出的电阻变化率对TMR元件进行评估。

公开(公告)号：CN1728240A

公开(公告)日：2006-02-01

申请号：CN200510078965.3

申请日：2005-06-21

Applicant: TDK株式会社 ,  新科实业有限公司

Inventor： 蜂须贺望 ,  稻毛健治 ,  高桥法男 ,  清水达司 ,  黃柏坚

IPC: G11B5/455 ,  G11B5/39 ,  H01L43/12

Abstract: 本发明提供了一种用于测试TMR元件的方法，该方法包括：测量步骤，通过将具有彼此不同电流值的多个感测电流馈送通过TMR元件来测量TMR元件的多个电阻；计算步骤，由所测TMR效应元件的多个电阻计算电阻变化率；和评估步骤，使用计算出的电阻变化率对TMR元件进行评估。

公开(公告)号：CN1606067A

公开(公告)日：2005-04-13

申请号：CN200410083551.5

申请日：2004-10-08

Applicant: 新科实业有限公司 ,  TDK株式会社

Inventor： 清水达司 ,  黃柏坚 ,  松隈裕树 ,  广瀬胜

IPC: G11B5/48 ,  G11B5/60 ,  G11B21/21

CPC classification number: B82Y25/00 ,  B82Y10/00 ,  G11B5/012 ,  G11B5/11 ,  G11B5/3909 ,  G11B5/40 ,  G11B5/4806 ,  G11B5/4826 ,  G11B2005/001

Abstract: 一个磁头万向支架组件(HGA)包括一个磁头滑动器，设置至少一个薄膜磁头元件，以及一个导电悬架，磁头滑动器固定在其上。磁头滑动器和悬架之间的一个传导电阻等于或高于1MΩ。