磁头的测量方法及其测量装置

    公开(公告)号:CN103093763A

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:CN201110344950.2

    申请日:2011-11-04

    Abstract: 本发明公开一种磁头的测量方法,包括:(a)将所述磁头放置于正常位置,定义第一方向和第二方向,第一方向平行于磁头的空气承载面和两屏蔽层,第二方向垂直于空气承载面;(b)倾斜磁头以使其与第二方向成一角度,以第一方向向磁头施加多个不同强度的第一磁场,并测量出第一输出参数曲线;(c)以不同角度重复步骤(b),并测量出多个第一输出参数曲线;(d)根据多个第一输出参数曲线计算磁头的被钉扎层的被钉扎方向从第二方向倾斜的多个被钉扎方向倾斜率;以及(e)根据多个被钉扎方向倾斜率计算被钉扎层从第二方向倾斜的被钉扎方向倾斜角。本发明有利于磁头制造商掌握磁头的性能。

    磁头滑块的加工测试方法、加工测试监控装置及加工设备

    公开(公告)号:CN107808675A

    公开(公告)日:2018-03-16

    申请号:CN201610814757.3

    申请日:2016-09-09

    CPC classification number: G11B5/127 G05B15/02

    Abstract: 本发明申请公开了一种磁头滑块的加工测试方法、加工测试监控装置及加工设备,所述磁头滑块的加工测试方法包括:提供至少一个应力传感器于晶圆中,以及提供控制装置与所述应力传感器连接;利用加工装置将所述晶圆加工成磁头滑块,所述控制装置在磁头滑块加工过程中监控所述应力传感器的性能参数以确定当前加工参数是否合适,并在当前加工参数不合规格时,向所述加工装置发出调整信号,所述加工装置根据所述调整信号调整加工参数。本发明申请可以实时监控磁头滑块的加工测试,从而更有效方便地对磁头滑块进行加工测试。

    磁头、磁头折片组合及磁盘驱动单元

    公开(公告)号:CN102148039B

    公开(公告)日:2015-02-04

    申请号:CN201010119175.6

    申请日:2010-02-10

    CPC classification number: G11B5/486 G11B5/105 G11B5/455 G11B5/4853

    Abstract: 本发明公开了一种用于磁头折片组合的磁头,该磁头包括尾随面及数个设置于所述尾随面上的连接触点,所述连接触点用于将磁头连接至磁头折片组合的悬臂件及测试所述磁头的性能。其中,至少一部分连接触点包括连接部及与所述连接部电连接的测试部,所述测试部的表面积大于所述连接部,所有的连接部和其余的连接触点排列成一第一行,所述测试部位于所述第一行之外。本发明磁头上的连接触点具有新型的布局,使得所述连接触点便于实现连接,且磁头上可提供更多的连接触点以连接更多内置于磁头的传感器而实现精确读写,从而提高磁头的性能。本发明同时揭露了具有该磁头的磁头折片组合及以及磁盘驱动单元。

    测量隧道磁电阻传感器中纵向偏磁场的方法

    公开(公告)号:CN102707246A

    公开(公告)日:2012-10-03

    申请号:CN201110074459.2

    申请日:2011-03-28

    CPC classification number: G01R33/098

    Abstract: 本发明公开了一种测量磁头的隧道磁电阻传感器中的纵向偏磁场的方法,其包括以下步骤:施加一外部纵向时变磁场到隧道磁电阻传感器,该外部纵向时变磁场的方向与纵向偏磁场的方向相反;在外部纵向时变磁场的应用下,确定隧道磁电阻传感器的衬底饱和值;施加一外部横向时变磁场到隧道磁电阻传感器,该外部横向时变磁场的方向与纵向偏磁场的方向相垂直;施加一外部纵向直流磁场到隧道磁电阻传感器,该外部纵向直流磁场的方向与纵向偏磁场的方向相反;在外部纵向直流磁场的不同场强值及外部横向时变磁场的应用下,确定复数个不同输出振幅;根据不同输出振幅和不同场强值描绘出一曲线图;及根据所述曲线图及所述衬底饱和值确定纵向偏磁场的强度。

    磁隧道结中偏流/偏压引起的升温的测量方法

    公开(公告)号:CN102564637A

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN201010588666.5

    申请日:2010-12-15

    Abstract: 本发明公开了一种磁隧道结中由偏流/偏压引起的温度上升的测量方法,其包括以下步骤:(a)施加一外部时变磁场到所述磁隧道结;(b)在不同的温度值下测量不同的第一外触发磁场值;(c)根据所述温度值和所述第一外触发磁场值计算温度与外触发磁场之间的关系;(d)在不同的偏流/偏压值下测量不同的第二外触发磁场值;(e)根据所述偏流/偏压值和所述第二外触发磁场值计算偏流/偏压与外触发磁场之间的关系;(f)根据步骤(c)和(e)的结果计算所述温度与所述偏流/偏压之间的关系。采用本发明的测量方法,可以获得温度与偏流/偏压之间的关系,从而可确定何种隧道磁电阻传感器的设计在较高操作温度下具有更为稳定及可靠的性能。

    磁头滑块的加工测试方法、加工测试监控装置及加工设备

    公开(公告)号:CN107808675B

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN201610814757.3

    申请日:2016-09-09

    Abstract: 本专利申请公开了一种磁头滑块的加工测试方法、加工测试监控装置及加工设备,所述磁头滑块的加工测试方法包括:提供至少一个应力传感器于晶圆中,以及提供控制装置与所述应力传感器连接;利用加工装置将所述晶圆加工成磁头滑块,所述控制装置在磁头滑块加工过程中监控所述应力传感器的性能参数以确定当前加工参数是否合适,并在当前加工参数不合规格时,向所述加工装置发出调整信号,所述加工装置根据所述调整信号调整加工参数。本专利申请可以实时监控磁头滑块的加工测试,从而更有效方便地对磁头滑块进行加工测试。

    磁头噪声测试过程中的频谱模拟方法及磁头噪声测试方法

    公开(公告)号:CN103247300B

    公开(公告)日:2017-07-07

    申请号:CN201210027288.2

    申请日:2012-02-08

    Abstract: 本发明公开了一种用于磁头噪声测试的频谱模拟方法,包括以下步骤:(11),采用一动态测试机在第一频率带宽范围内对若干磁头进行检测,从而获得多个第一噪声观测图;(22),在一预定频率带宽上将每一所述噪声观测图划分成至少两段噪声曲线,其包括第一噪声曲线和第二噪声曲线,其中每一所述第一噪声曲线的频率带宽低于每一所述第二噪声曲线的频率带宽;(33),将每一所述第二噪声曲线拟合成数学方程;以及(44),在多个所述数学方程之间建立一相关方程,从而模拟出每一磁头的所述第二噪声曲线。本发明能模拟噪声观测图的在较高频率带宽范围下的第二噪声曲线,并根据该第二噪声曲线建立相关方程,从而节省测试时间,提高测试效率并提高测试精度。

    读头传感器、磁头、磁头折片组合及硬盘驱动器

    公开(公告)号:CN102779529B

    公开(公告)日:2016-08-03

    申请号:CN201110123074.0

    申请日:2011-05-12

    Abstract: 本发明公开了一种读头传感器,其包括第一屏蔽层、第二屏蔽层、形成于所述第一屏蔽层和所述第二屏蔽层之间的读元件以及一对分别放置于所述读元件两边的永磁层;其中,还包括形成于所述读元件之侧的磁场产生装置,所述磁场产生装置用于向所述读元件提供垂直于所述第一屏蔽层和所述第二屏蔽层的磁场,从而稳定所述读头传感器的读取性能。本发明的读头传感器能稳定读取性能、改善不稳定的缺陷读元件,并减少浪费和降低制造成本。本发明还公开了一种磁头、磁头折片组合及磁盘驱动器。

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