彩色色粉附着量测定装置

    公开(公告)号:CN1837783A

    公开(公告)日:2006-09-27

    申请号:CN200610000370.0

    申请日:2006-01-06

    Inventor: 村田知之

    Abstract: 一种彩色色粉附着量测定装置。本发明的目的是提供一种彩色色粉附着量测定装置,能利用简单的结构、低成本且小型地构成,且具有监视功能。该彩色色粉附着量测定装置(10)包括:具有上方敞开的4个凹陷部的树脂制框架部件(11);在上述框架部件的各个凹陷部的底面都设置的一对导体部(13、14),上述一对导体部相互邻接并露出;分别位于上述各凹陷部内,被安装在其中一个导体部(13)的芯片安装部上,并与另一个导体部电连接的一个芯片状发光元件(15)和3个芯片状受光元件(16、17、18);被覆盖在上述框架部件上的一体的盖体(12),上述盖体对应于上述发光元件以及第一和第二受光元件而具有设置了偏振光薄膜(19a、19b、19c)的窗口部,并设置有使第三受光元件反射来自上述发光元件的光的反射面(12a’)。

    S/N比改进的光电检测器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN109801982A

    公开(公告)日:2019-05-24

    申请号:CN201811366205.6

    申请日:2018-11-16

    Abstract: S/N比改进的光电检测器件及其制造方法。一种光电检测器件包括:基板;光电半导体元件,其设置在基板上;第一树脂层,其包括第一透明树脂,设置在光电半导体元件上;以及第二树脂层,其包括第二透明树脂,设置在基板上。第二树脂层被分成设置在基板上并围绕光电半导体元件的侧壁的包含遮光填料的含填料树脂下部以及设置在含填料树脂下部上并围绕第一树脂层的侧壁的至少一部分的不包含遮光填料的不含填料树脂上部。

    S/N比改进的光电检测器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN109801982B

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN201811366205.6

    申请日:2018-11-16

    Abstract: S/N比改进的光电检测器件及其制造方法。一种光电检测器件包括:基板;光电半导体元件,其设置在基板上;第一树脂层,其包括第一透明树脂,设置在光电半导体元件上;以及第二树脂层,其包括第二透明树脂,设置在基板上。第二树脂层被分成设置在基板上并围绕光电半导体元件的侧壁的包含遮光填料的含填料树脂下部以及设置在含填料树脂下部上并围绕第一树脂层的侧壁的至少一部分的不包含遮光填料的不含填料树脂上部。

    彩色色粉附着量测定装置

    公开(公告)号:CN100561185C

    公开(公告)日:2009-11-18

    申请号:CN200610000370.0

    申请日:2006-01-06

    Inventor: 村田知之

    Abstract: 一种彩色色粉附着量测定装置。本发明的目的是提供一种彩色色粉附着量测定装置,能利用简单的结构、低成本且小型地构成,且具有监视功能。该彩色色粉附着量测定装置(10)包括:具有上方敞开的4个凹陷部的树脂制框架部件(11);在上述框架部件的各个凹陷部的底面都设置的一对导体部(13、14),上述一对导体部相互邻接并露出;分别位于上述各凹陷部内,被安装在其中一个导体部(13)的芯片安装部上,并与另一个导体部电连接的一个芯片状发光元件(15)和3个芯片状受光元件(16、17、18);被覆盖在上述框架部件上的一体的盖体(12),上述盖体对应于上述发光元件以及第一和第二受光元件而具有设置了偏振光薄膜(19a、19b、19c)的窗口部,并设置有使第三受光元件反射来自上述发光元件的光的反射面(12a’)。

Patent Agency Ranking