二极管集成式制造方法及集成式二极管

    公开(公告)号:CN118969733A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411050572.0

    申请日:2024-08-01

    Abstract: 本发明提出一种二极管集成式制造方法及集成式二极管,属于半导体技术领域,制造方法包括:在TMBS的外延衬底上划分TMBS区和TVS区,在TVS区上形成PN结,并在TVS区上形成TVS沟槽栅,在TMBS区上形成TMBS沟槽栅;在TMBS区形成绝缘层和层间介质层,并在TMBS区生成TMBS金属层,在TVS区生成TVS金属层,以得到第三中间晶圆;在第三中间晶圆上生长钝化层,并在钝化层上光刻出TMBS金属层和TVS金属层;在外延衬底的背面上形成背面金属层,以得到TMBS和TVS并联的集成式二极管。如此,TMBS和TVS集成在一块外延衬底上,大大地减少了衬底材料、工艺制程、封装及线材等成本。同时,实现一起封装,从而能够避免因单独封装接线而导致的应用失效风险,极大地降低应用失效风险。

    一种氮化镓功率器件
    2.
    实用新型

    公开(公告)号:CN220895512U

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202322261030.5

    申请日:2023-08-21

    Abstract: 本申请实施例提供一种氮化镓功率器件,涉及半导体器件结构技术领域。本氮化镓功率器件包括逐层设置的衬底、缓冲层、势垒层。势垒层的远离衬底的一面间隔设置有P型氮化镓层和漏极金属,P型氮化镓层的远离衬底的一面设置有栅极金属;在势垒层的远离衬底的一面,且在栅极金属和漏极金属之间,设置有钝化层;在钝化层和势垒层之间的部分区域,或在钝化层的远离势垒层的一面的部分区域,设置有高K介质层。高K介质层能起到将电极边缘或场板边缘的电场峰值降低的作用,获得更为均匀的电场分布,提高器件的耐压。

    一种沟槽隔离结构及半导体器件

    公开(公告)号:CN222885081U

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202421582061.9

    申请日:2024-07-04

    Abstract: 本申请公开了一种沟槽隔离结构及半导体器件,涉及半导体技术领域,本申请的沟槽隔离结构,包括基体,基体上至少包括第一凹槽和第二凹槽,其中第一凹槽的深度大于第二凹槽的深度,第一凹槽的槽底设置第一隔离体,第二凹槽的槽底设置第二隔离体,第一隔离体和第二隔离体的上表面与基体的上表面距离相等,第一凹槽和第二凹槽的侧壁还设置有介电层。本申请提供的沟槽隔离结构及半导体器件,能够提高深沟槽区域的雪崩击穿电压。

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