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公开(公告)号：CN119064740A
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202411002857.7
申请日：2024-07-25
Applicant: 扬州大学
Abstract: 本发明公开了一种辐照环境下宽禁带半导体器件电学性能监测系统，包括：功率器件辐照电路板，主控电路板，上位机，第一、第二源表，示波器；功率器件辐照电路板包括母板，弯插排针，器件测试座以及子板，主控电路板上设有控制栅极、漏极加压的继电器组，器件栅极，漏极逻辑选通电路，与控制漏极，栅极加压的继电器组联通的第一、第二漏极源表输入电压接线柱以及控制模块；当对某个待测器件进行电学性能监测时，将示波器与待测器件连接；上位机将控制信号传送至控制模块，并对源表的输出电压进行控制，控制模块通过驱动逻辑选通电路控制相应继电器闭合，从而使得第一、第二源表的电压通过相应继电器施加到待测器件上，最终实现对待测器件的监测。
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