公开(公告)号：CN116630306B

公开(公告)日：2023-10-20

申请号：CN202310882450.7

申请日：2023-07-19

Applicant: 成都信息工程大学

Inventor： 蒋世奇 ,  刘丹妮 ,  张渝怀 ,  沈琳 ,  蔡忠原 ,  田珂宇 ,  曾子寒

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/187 ,  G06T7/62

Abstract: 本发明涉及计算机视觉技术领域，公开了一种飞机半圆头铆钉的缺陷检测方法和装置，通过获取若干经过铆接的飞机半圆头铆钉的第一图像信息；识别所述第一图像信息中各飞机半圆头铆钉的头受损部分像素连通区域，并计算得到各飞机半圆头铆钉的头受损部分像素连通区域的面积；根据所述头受损部分像素连通区域的面积，以及，半圆头铆钉头受损面积与形变量的关系，检测各飞机半圆头铆钉是否存在缺陷。本发明将半圆头铆钉压缩量检测，转换为通过计算飞机半圆头铆钉的头受损部分像素连通区域的面积，以及，半圆头铆钉头受损面积与形变量的关系，来判断半圆头铆钉是否存在缺陷，提高了铆钉缺陷检测效率和检测准确率。

公开(公告)号：CN116630306A

公开(公告)日：2023-08-22

申请号：CN202310882450.7

申请日：2023-07-19

Applicant: 成都信息工程大学

Inventor： 蒋世奇 ,  刘丹妮 ,  张渝怀 ,  沈琳 ,  蔡忠原 ,  田珂宇 ,  曾子寒

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/187 ,  G06T7/62

Abstract: 本发明涉及计算机视觉技术领域，公开了一种飞机半圆头铆钉的缺陷检测方法和装置，通过获取若干经过铆接的飞机半圆头铆钉的第一图像信息；识别所述第一图像信息中各飞机半圆头铆钉的头受损部分像素连通区域，并计算得到各飞机半圆头铆钉的头受损部分像素连通区域的面积；根据所述头受损部分像素连通区域的面积，以及，半圆头铆钉头受损面积与形变量的关系，检测各飞机半圆头铆钉是否存在缺陷。本发明将半圆头铆钉压缩量检测，转换为通过计算飞机半圆头铆钉的头受损部分像素连通区域的面积，以及，半圆头铆钉头受损面积与形变量的关系，来判断半圆头铆钉是否存在缺陷，提高了铆钉缺陷检测效率和检测准确率。