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公开(公告)号:CN86107669A
公开(公告)日:1987-07-15
申请号:CN86107669
申请日:1986-12-04
Applicant: 得克萨斯仪器公司
Inventor: 埃尔顿·杰·佐伦斯基 , 大卫·彼·斯布莱特
IPC: H01L21/306 , H01L21/76
CPC classification number: H01L21/02238 , H01L21/02255 , H01L21/02307 , H01L21/02312 , H01L21/306 , H01L21/31662 , H01L21/76245
Abstract: 一种半导体结构在半导体岛区(54)和隔离内层(50)之间具有渡越厚度小于1500埃的高清晰度界面。为了生成这种结构,在复合外延层(54)和N+内层(50)上开槽(62)。内层(50)被在高压和低温条件下阳极化和氧化处理,以减少N+杂质的上扩散进入外延层(54)。