含硅膜的高温原子层沉积
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118086873A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410379141.2

    申请日:2019-10-04

    Inventor: 王美良 雷新建

    Abstract: 提供了一种用于在600℃或更高的一个或多个温度下在原子层沉积工艺中沉积氧化硅膜的方法和组合物。在一个方面,提供了一种在约600℃至1000℃的一个或多个温度下在反应器中的衬底上沉积氧化硅膜或材料的方法,包括以下步骤:向反应器中引入至少一种选自具有本文所述式I和式II的化合物的卤代碳硅烷前体;用吹扫气体吹扫反应器;将含氧源引入反应器中;和用吹扫气体吹扫反应器;并且其中重复这些步骤直至沉积所需厚度的氧化硅。

    含硅膜的高温原子层沉积

    公开(公告)号:CN112969817B

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN201980073823.8

    申请日:2019-10-04

    Inventor: 王美良 雷新建

    Abstract: 提供了一种用于在600℃或更高的一个或多个温度下在原子层沉积工艺中沉积氧化硅膜的方法和组合物。在一个方面,提供了一种在约600℃至1000℃的一个或多个温度下在反应器中的衬底上沉积氧化硅膜或材料的方法,包括以下步骤:向反应器中引入至少一种选自具有本文所述式I和式II的化合物的卤代碳硅烷前体;用吹扫气体吹扫反应器;将含氧源引入反应器中;和用吹扫气体吹扫反应器;并且其中重复这些步骤直至沉积所需厚度的氧化硅。

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