一种基于半导体制冷的高低温试验箱

    公开(公告)号:CN208156522U

    公开(公告)日:2018-11-27

    申请号:CN201721496263.1

    申请日:2017-11-10

    Abstract: 本实用新型涉及低压载波设备性能测试技术领域,具体涉及一种基于半导体制冷的高低温试验箱,具体包括箱体、温度调节系统,温度调节系统包括信号检测模块、中央处理器、加热装置、制冷装置;信号检测模块采集箱体内部的温度信号给中央处理器处理,中央处理器控制制冷装置、加热装置的工作状态;加热装置用于当箱体内部高度低于预设值时升高箱体内的温度;制冷装置用于当箱体内部温度高于预设值时降低箱体内的温度;本实用新型解决了一般高低温试验箱体积大、精度低等问题,本实用新型采用半导体制冷片与DS18B20温度传感器多点测温相结合,减少了测量误差和增加了测试过程中的稳定性,提高了电子工业产品环境可靠性和质量检验水平。

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