一种稳态量热计法半球发射率测试仪

    公开(公告)号:CN103969291A

    公开(公告)日:2014-08-06

    申请号:CN201410155908.X

    申请日:2014-04-17

    Abstract: 一种稳态量热计法半球发射率测试仪,包括真空室、试样加热组件、抽真空装置、恒温冷却装置以及数据测量与处理装置;真空室包括真空罩以及固设在真空罩内壁上的热沉;试样加热组件设置在真空室对试样进行加热,包括主加热器;抽真空装置与该真空室的真空测试空间连通;恒温冷却装置与真空室的冷却介质通道连通;数据测量与处理装置采集试样温度、热沉温度、真空室内真空度以及主加热器的功率,并计算出试样的半球发射率。克服了测试过程对材料导热系数与比热容的苛刻要求,测试精度高,测试温区宽,可以测试材料在不同温度条件下尤其是在低温下的半球发射率。利用该测试装置的测试结果,可方便地计算出材料的半球发射率,测试与计算较简单。

    一种稳态量热计法半球发射率测试仪

    公开(公告)号:CN103969291B

    公开(公告)日:2016-09-07

    申请号:CN201410155908.X

    申请日:2014-04-17

    Abstract: 一种稳态量热计法半球发射率测试仪,包括真空室、试样加热组件、抽真空装置、恒温冷却装置以及数据测量与处理装置;真空室包括真空罩以及固设在真空罩内壁上的热沉;试样加热组件设置在真空室对试样进行加热,包括主加热器;抽真空装置与该真空室的真空测试空间连通;恒温冷却装置与真空室的冷却介质通道连通;数据测量与处理装置采集试样温度、热沉温度、真空室内真空度以及主加热器的功率,并计算出试样的半球发射率。克服了测试过程对材料导热系数与比热容的苛刻要求,测试精度高,测试温区宽,可以测试材料在不同温度条件下尤其是在低温下的半球发射率。利用该测试装置的测试结果,可方便地计算出材料的半球发射率,测试与计算较简单。

    一种稳态量热计法半球发射率测试仪

    公开(公告)号:CN203894183U

    公开(公告)日:2014-10-22

    申请号:CN201420188794.4

    申请日:2014-04-17

    Abstract: 一种稳态量热计法半球发射率测试仪,包括真空室、试样加热组件、抽真空装置、恒温冷却装置以及数据测量与处理装置;真空室包括真空罩以及固设在真空罩内壁上的热沉;试样加热组件设置在真空室对试样进行加热,包括主加热器;抽真空装置与该真空室的真空测试空间连通;恒温冷却装置与真空室的冷却介质通道连通;数据测量与处理装置采集试样温度、热沉温度、真空室内真空度以及主加热器的功率,并计算出试样的半球发射率。克服了测试过程对材料导热系数与比热容的苛刻要求,测试精度高,测试温区宽,可以测试材料在不同温度条件下尤其是在低温下的半球发射率。利用该测试装置的测试结果,可方便地计算出材料的半球发射率,测试与计算较简单。

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