门组件及微波烹饪器具
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119967656A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202311440974.7

    申请日:2023-10-31

    Abstract: 本发明涉及家用电器技术领域,具体公开了一种门组件及微波烹饪器具。门组件包括门框、第一扼流部和第二扼流部:门框具有相对设置的第一表面和第二表面,第一表面用于和箱体相抵靠;第一扼流部围绕门框的外边缘设置并连接于门框,并用于扼流第一频率的微波;第二扼流部围绕第一扼流部设置并连接于门框,并用于扼流第二频率的微波。本发明的门框在设有第一扼流部的基础上配置有第二扼流部,在双频率的微波烹饪器具进行烹饪时,通过第一扼流部对第一频率的微波进行扼流处理,通过第二扼流部能够对第二频率的微波进行扼流处理,提高了对双频率的微波烹饪器具的扼流效果,降低了微波泄漏的可能性。

    门组件及微波烹饪器具
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119967654A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202311432675.9

    申请日:2023-10-31

    Abstract: 本发明公开了一种门组件及微波烹饪器具,该门组件包括具有第一侧面的门框,第一侧面用于面向微波烹饪器具的箱体,门框在第一侧面上设有扼流部,扼流部包括扼流板和多个扼流齿,扼流板连接在门框的边缘且环绕门框的一周,扼流板向第一侧面的方向延伸设置,多个扼流齿分别连接在扼流板背离第一侧面的一端,并且多个扼流齿沿门框的周向间隔设置,扼流齿包括多个板体,多个板体依次相连,并且相邻设置的两个板体相交设置,至少一个板体的边缘为阶梯结构。通过扼流齿的多个板体中的至少一个的边缘设置成阶梯结构,当微波到达扼流齿的位置时,能够延长微波的传播路径,使得微波的滤波效果能够得到提升,对扼流齿的设置,增加了烹饪腔的开口尺寸。

    烹饪器具
    4.
    发明公开
    烹饪器具 审中-实审

    公开(公告)号:CN119914905A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202311426890.8

    申请日:2023-10-31

    Abstract: 本发明提供了一种烹饪器具,其中,烹饪器具包括:底座,底座的顶部设有置物板,置物板用于放置食材;微波组件,设于底座,微波组件能够生成微波,微波组件具有多个翅片组,多个翅片组中的任一翅片组包括多个翅片,翅片用于将微波沿朝向置物板的方向辐射;热风组件,设于底座,热风组件能够生成热风,微波组件还具有热风组件安装槽,热风组件的至少一部分位于热风组件安装槽内,热风组件避让翅片,置物板的至少一部分能够通风,以将热风组件所生成的热风排出。

    测试设备和测试方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119224445A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310802304.9

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本发明公开了一种测试设备和测试方法,测试设备包括测试腔体、射频模块、天线和处理组件;测试腔体内设有测试腔,测试腔用于容置被测件;射频模块包括发射机、接收机、第一耦合器、第二耦合器和切换件,发射机用于输出射频信号,第一耦合器用于采集发射机输出的射频信号;天线用于将射频信号馈入测试腔内,及用于接收被测件辐射的电磁波;第二耦合器用于采集天线接收的被测件辐射的电磁波;处理组件连接发射机、接收机和切换件,处理组件用于控制切换件使接收机与第一耦合器连接或使接收机与第二耦合器连接。上述测试设备可以利用接收机来检测射频信号,对射频信号进行闭环控制。

    测试装置
    7.
    发明公开
    测试装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN117517775A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202210904014.0

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种测试装置。测试装置包括:测试腔体,用于放置待测设备;天线,用于接收待测设备辐射的电磁波信号;和射频模块,射频模块包括:混频器,混频器连接天线,并用于利用本振信号将电磁波信号转换为第一中频信号;中频滤波器,连接混频器,中频滤波器用于消除第一中频信号中处于中频滤波器带宽外的杂散信号并输出第二中频信号;和数字信号处理单元,连接中频滤波器,数字信号处理单元用于接收第二中频信号,并通过至少两次对第二中频信号进行采样分析以消除第二中频信号中的杂散信号。上述测试装置中,通过中频滤波器滤和数字信号处理单元的处理,可以消除测试过程中的杂散信号,提高对待测设备辐射出的电磁波的频谱分析的准确性。

    测试设备和测试方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117517811A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202210903152.7

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种测试设备和测试方法。测试设备包括:测试腔体,用于放置待测设备;天线;辐射信号源,连接所述天线,用于通过所述天线向所述测试腔体内辐射电磁波;校准组件,所述校准组件包括阵列探头,所述阵列探头可移动地设置在所述测试腔体内,所述校准组件用于根据所述阵列探头在移动时所输出的电磁场场强信号,确定所述测试腔体内的均匀场强位置。上述测试设备,可通过阵列探头的移动来确定所述测试腔体内的均匀场强位置,提升了测试效率。

Patent Agency Ranking